[发明专利]一种磁盘减振器减振效果测试方法有效
申请号: | 201810739393.6 | 申请日: | 2018-07-06 |
公开(公告)号: | CN109115436B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 郭建国;张鑫;肖萌萌;任海波 | 申请(专利权)人: | 郑州天迈科技股份有限公司 |
主分类号: | G01M7/02 | 分类号: | G01M7/02 |
代理公司: | 郑州德勤知识产权代理有限公司 41128 | 代理人: | 黄红梅;黄军委 |
地址: | 450001 河南省郑州市高新区莲花街*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁盘 减振器 效果 测试 方法 | ||
1.一种磁盘减振器减振效果测试方法,其特征在于:将车载机放置在振动平台上,传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上,在测试时,使用软件测试硬盘盒的IO的访问速率,其主要步骤如下
(1)设置振动测试条件,组合测试条件进行测试,并记录每一种组合振动测试条件下的IO的访问速率;
(2)统计不同I/O访问时间的块数量,获得在不同的振动条件下的I/O访问情况,继而获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果;
所述设置振动测试条件包括
加速度设置,1G/2G/2.5G/3G;
频率设置,5Hz-200Hz;
方向设置,X/Y/Z;
IO访问区域,访问同一柱面的数据,访问的区域和大小相同;
温度,低温/常温/高温;
所述硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果的判断规则包括:
(1)同一振动条件内,不同访问时间对比:访问时间少的块数量多,判断为减振效果好;否则,判断为减振效果差;
(2)不同振动条件,相同访问时间对比:访问块数多,判断为在此条件的减振效果好;否则,判断为减振效果差;
所述不同I/O访问时间设置为小于5ms、小于10ms、小于50ms、小于150ms、小于500ms和访问失败。
2.根据权利要求1所述的磁盘减振器减振效果测试方法,其特征在于:所述使用软件采用的是MHDD软件。
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