[发明专利]一种激光功率的量子测量方法有效

专利信息
申请号: 201810742056.2 申请日: 2018-07-09
公开(公告)号: CN108917922B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 薛潇博;杨仁福;张振伟;赵环;王暖让;陈星;张旭;陈海波 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 功率 量子 测量方法
【说明书】:

发明公开了一种激光功率的量子测量方法。本发明利用了原子特性及原子频标系统,将对激光功率的直接测量转变成对原子跃迁频率的测量,是原子光谱技术与光功率测量的结合,与现有的方法相比,具有原理上的创新。现有的测量方法可达到的测量精度受限,报道的最优值在10‑4量级,不能满足日益增长的精密测量需求。本发明提高了测量精度,理论上可提高1~2个量级甚至更多,达到10‑5至10‑6量级。将提高对激光功率的测量能力、提高光学计量能力,可促进激光计量行业的发展。

技术领域

本发明涉及光学计量技术领域。更具体地,涉及一种激光功率的量子测量方法。

背景技术

在激光加工、激光医疗、激光检测、基础科学研究等领域,对激光各项参数的精确测量要求越来越高,其中一项就是对激光功率的精密测量。目前的测量方法还主要集中在高精度探测器的研究上,其方法主要为直接对光功率进行测量,根据待测激光功率、波长等范围的不同,功率测量不确定度从0.01%到2%不等,即最优的测量不确定度仅达到10-4量级,已经远远不能满足精密测量需求。

因此,亟需从测量方法上进行改进,提出一种新的测量方法以突破直接测量光功率的精度局限。

发明内容

基于以上背景技术,本发明提出的一种激光功率的量子测量方法,利用原子结构及原子频标系统,突破了现有的指标,实现1~2个量级的测量精度提高。理论上利用本方法,指标可以达到10-6量级甚至更优。该方法主要是结合了目前学术上精度最高的频率测量,将原本对光功率的直接测量,转换成对频率的测量,从而提高测量精度、提高光学计量精度。

为了实现以上目的,本发明采用以下技术方案:

一种激光功率的量子测量方法,该方法包括:

测量原子频标系统正常工作时的输出频率ν1

将特定波长的待测激光打入原子频标系统内的原子气室,与原子相互作用,测量此时原子频标系统的输出频率ν2;原子能级频移量为Δν=ν21

根据光频移效应计算得到待测激光功率。

优选地,在标准二能级模型下,原子能级位移En’和激光功率P的关系如下:

其中为普朗克常量;

En’是激光作用时的下能级能量;

En是没有激光作用时的下能级能量;

Hmn是基态到激发态的跃迁矩阵元,Hmn=m|H|n,H为系统哈密顿量;

P为入射激光功率

S为入射激光光斑面积;

Is为原子跃迁饱和光强,对于特定的原子跃迁能级,Is为常数;

ν0为没有激光干扰时能级跃迁频率;

ν为入射激光频率;

δ=ν-ν0为激光与原子能级之间频率失谐量;Δν=ν21

Γ表示上能级自然线宽;

利用此关系,当原子能级频移量精确测量后,计算得到入射激光功率。

所述原子能级位移En’和激光功率的关系,频移量可简化为:

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