[发明专利]一种二极管串辅助触发SCR的双向瞬态电压抑制器有效
申请号: | 201810746126.1 | 申请日: | 2018-07-09 |
公开(公告)号: | CN108899317B | 公开(公告)日: | 2020-07-24 |
发明(设计)人: | 顾晓峰;刘湖云;梁海莲 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 梅洪玉 |
地址: | 214122 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二极管 辅助 触发 scr 双向 瞬态 电压 抑制器 | ||
一种二极管串辅助触发SCR的双向瞬态电压抑制器,属于集成电路的静电放电防护及抗浪涌领域,可用于提高片上IC和电路系统的静电放电防护或抗浪涌能力。该双向瞬态电压抑制器主要由P衬底、深N阱、N阱、P阱、第一P+注入区、第一N+注入区、第二P+注入区、第二N+注入区、第三P+注入区、第三N+注入区和金属线构成。该器件通过结合二极管串触发电压低和BJT或SCR结构过电应力的鲁棒性强等优势,使器件在正、反向电学应力作用下,可实现无回滞且鲁棒性强的双向ESD或瞬态浪涌防护。
技术领域
本发明属于集成电路的静电放电防护及抗浪涌领域,涉及一种静电放电防护或抗浪涌器件,具体涉及一种二极管串辅助触发SCR的双向瞬态电压抑制器,可用于提高片上IC和电路系统的系统可靠性。
背景技术
由于IC及其相关电子产品在制造、组装、测试与应用等环节中,均可能受到静电放电(ESD)、瞬态电压或电流浪涌现象的影响,使电路功能或系统稳定性受到削弱或破坏,因此,ESD防护及抗浪涌的研究在半导体及电子工程应用中尤为重要。ESD或浪涌现象对国民经济产生的破坏与损失,近年来已引起国内外电子工程师和科研人员的密切关注与重视。研究与设计有效的ESD防护及抗浪涌的瞬态电压抑制器,对国民经济和社会发展具有十分重要的科研经济价值。
对于低压电路尤其射频电路的ESD防护或抗浪涌而言,最高效的ESD防护或抗浪涌器件,是在占用最小版图面积的前提下,保证器件具有较低的触发电压,较小的电容,较强的电流泄放能力和过电应力鲁棒性。又由于在一些信号I/O端口,瞬态电信号通常具有电应力方向不确定性等特点,传统单向ESD防护或抗浪涌器件在反向电应力作用下,具有较大的漏电流和较弱的电压箝制能力。因此,设计双向ESD防护或抗浪涌器件,不仅可以满足一些特殊I/O端口的ESD防护或抗浪涌需求,还能在不增大器件面积的前提下,实现ESD防护或抗浪涌的最高效能比。在已有的低压电路的ESD防护或抗浪涌应用领域中,二极管串因具有触发电压灵活可控的特点,应用较广。但是,二极管串的鲁棒性较弱,ESD防护或抗浪涌能力较差。可硅控(SCR)是当前受到广泛关注的一种具有较大潜在价值的ESD防护或抗浪涌器件,与二极管串不同,它具有强电流泄放能力。然而,SCR却存在高触发电压低维持电压特征,存在较大的闩锁风险。本发明提供了一种二极管串辅助触发SCR的双向瞬态电压抑制器设计方法及其制造原理,通过两个二极管串联路径的电压箝位作用,以及多个寄生BJT之间的正反馈作用,可实现无回滞且鲁棒性强的ESD防护或抗浪涌功能。另外,本发明器件在正、反向电学应力作用下,可呈现相同的电学特性,具有双向ESD防护或抗浪涌功能。与传统器件相比,本发明器件可大幅节省芯片面积,有效提高器件在ESD防护或抗浪涌过程中的单位面积效能。
发明内容
针对二极管鲁棒性较弱以及SCR器件触发电压较高而不适用于低压领域的ESD防护或抗浪涌等问题,本发明设计了一种二极管串辅助触发SCR的双向瞬态电压抑制器,利用二极管触发电压可控且无回滞的特点,并结合BJT或SCR的过电应力鲁棒性强的优点,可在不增加器件面积的前提下,降低器件的触发电压,增强器件鲁棒性。同时,本发明器件可在正、反向电学应力作用下,形成具有相同电学特性的电流泄放路径,实现双向ESD或瞬态浪涌防护。
本发明通过以下技术方案实现:
一种二极管串辅助触发SCR的双向瞬态电压抑制器,其特征在于:主要包括P衬底、深N阱、N阱、P阱、第一P+注入区、第一N+注入区、第二P+注入区、第二N+注入区、第三P+注入区、第三N+注入区和金属线;
其中,在P衬底的表面区域设有深N阱,P衬底的左侧边缘与深N阱的左侧边缘相连,深N阱的右侧边缘与P衬底的右侧边缘相连;
在深N阱的表面区域从左至右依次设有N阱和P阱,深N阱的左侧边缘与N阱的左侧边缘相连,N阱的右侧边缘与P阱的左侧边缘相连,P阱的右侧边缘与深N阱的右侧边缘相连;
在N阱的表面区域从左至右依次设有第一P+注入区、第一N+注入区和第二P+注入区;
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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