[发明专利]曲面触控屏测试方法

说明书

一种曲面触控屏测试方法，包括：一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有一全平面区、一外围区，且具有四个圆弧顶角、多个像素单元、多个发射电极通道线、以及多个接收电极通道线；一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的发射电极通道线及像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的所述接收电极通道线及像素单元；一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。上述测试方法可测试各种曲面触控屏。

技术领域

本发明关于一种曲面触控屏测试方法，所述曲面触控屏测试方法能够在一曲面触控屏上的平面区域中设定一测试区域，并且在所述测试区域的其中一顶角顶点设定一座标原点，再以一触控屏测试机对所述曲面触控屏进行测试，藉此避免触控屏测试机无法在所述曲面触控屏的曲面边缘上找到顶角顶点，而无法在顶角顶点上设定一座标原点，导致无法进行测试的问题。

背景技术

请参照图1，现有的触控屏测试机在进行触摸测试或划线测试时，必须通过一传统矩形全平面触控屏80的直角顶角的顶点81进行对位，并在其中一顶点上设定一座标原点，进而定义出一对应所述全平面触控屏80的座标系统。

随着主动有机发光二极管(Active-matrix organic light-emitting diode,AMOLED)显示技术的日渐成熟，包括了立体(3D)曲面触控屏及具二维圆弧顶角的触控屏的曲面触控屏等产品也越来越多。

请参照图2，当以上述触控屏测试机对一曲面触控屏90(包括立体(3D)曲面触控屏及具二维圆弧顶角的触控屏)进行测试时，由于所述曲面触控屏90仅有圆弧顶角91而不具直角顶角，所述触控屏测试机无法依据直角顶角设定座标原点并定义出座标系统。因此，触控屏测试机无法对曲面触控屏90进行打点测试或划线测试。

故，有必要提供一种曲面触控屏测试方法，以解决上述技术问题。

发明内容

本发明主要目的在于提供一种曲面触控屏测试方法，所述曲面触控屏测试方法能够在一曲面触控屏上的平面区域中设定一测试区域，并且在所述测试区域的其中一顶角顶点设定一座标原点，再以一触控屏测试机对所述曲面触控屏进行测试，藉此避免触控屏测试机无法在所述曲面触控屏的曲面边缘上找到顶角顶点，而无法在顶角顶点上设定一座标原点，导致无法进行测试的问题。

为达上述目的，本发明提供一种曲面触控屏测试方法，其特征在于包括：

一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有：

一全平面区，所述全平面区呈矩形而具有四顶角顶点；

一外围区，围绕所述全平面区，且具有四个圆弧顶角；

多个像素单元，设置在所述曲面触控屏上；

多个发射电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上；以及

多个接收电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上，且与所述多个发射电极通道线相交，其中各所述接收电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元，各所述发射电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元；

一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的至少二所述发射电极通道线及屏蔽所述至少二发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的至少二所述接收电极通道线及屏蔽所述至少二接收电极通道线所对应的像素单元，其中未被屏蔽的发射电极通道线、未被屏蔽的接收电极通道线及未被屏蔽的像素单元位于所述全平面区内；