[发明专利]一种碳化硅双极型晶体管及其制造方法有效
申请号: | 201810756251.0 | 申请日: | 2018-07-11 |
公开(公告)号: | CN108899361B | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 李思敏 | 申请(专利权)人: | 北京优捷敏半导体技术有限公司 |
主分类号: | H01L29/73 | 分类号: | H01L29/73;H01L29/06;H01L21/331 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 张晶;郭佩兰 |
地址: | 100012 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 双极型 晶体管 及其 制造 方法 | ||
1.一种碳化硅双极型晶体管,为在N+型SiC衬底上面设有NPN三层SiC结构,其上层为多条由复数个重复排列的N型发射区组成的条带,中层由P型基区、多条由复数个重复排列的P型浓基区组成的条带和P型浓基区汇流条组成,其中,P型浓基区和P型浓基区汇流条掺杂浓度比P型基区高,P型浓基区和P型浓基区汇流条位于P型基区的上部;N型发射区的下面有P型基区,中层P型基区的下面有下层N型集电区,N型集电区的下面为N+型SiC衬底,该N型发射区的上表面连接发射极金属层,该N+型SiC衬底下表面连接集电极金属层,其特征在于:
该P型浓基区与P型浓基区汇流条相交或平行;
该P型浓基区汇流条的上方设有基极金属层,该基极金属层与P型浓基区汇流条的上表面相连接;
该重复排列的N型发射区组成的条带内相邻N型发射区之间的重复间距在50μm以内;
该P型浓基区汇流条围绕在P型浓基区周围;
该P型浓基区汇流条也围绕在N型发射区周围;
该P型浓基区与该N型发射区间隔排列。
2.权利要求1所述的碳化硅双极型晶体管,其特征在于:所述的P型浓基区的表面杂质浓度是P型基区的杂质浓度的10倍以上。
3.权利要求1所述的碳化硅双极型晶体管,其特征在于:所述P型基区和P型浓基区通过氧化层与发射极金属层连接。
4.一种碳化硅双极型晶体管的制造方法,其特征在于,包括下列工艺步骤:
A. 提供一套碳化硅双极型晶体管的掩膜版,包括:
第一掩膜版:为N型发射区图形的掩膜版,N型发射区图形为多条由复数个重复排列的N型发射区图形单元形成的N型发射区条带组成,该N型发射区条带内相邻N型发射区图形单元的重复间距在50μm以内;
第二掩膜版:为含有P型浓基区图形与P型浓基区汇流条图形的掩膜版,该P型浓基区图形为多条由复数个重复排列的P型浓基区图形单元形成的P型浓基区条带组成,该P型浓基区条带内相邻P型浓基区图形单元的重复间距与N型发射区条带内N型发射区图形单元的重复间距相同;该P型浓基区汇流条图形与P型浓基区图形相交或平行,该P型浓基区汇流条图形围绕在P型浓基区条带周围;
当第二掩膜版上的P型浓基区图形与第一掩膜版上的N型发射区图形对准时,P型浓基区汇流条图形也围绕在N型发射区条带周围;
B. 提供N+型SiC衬底;
C. 在N+型SiC衬底上面外延一层N型集电区层;
D. 在N型集电区层上面外延一层P型基区层;
E. 在P型基区层的上面外延一层N型发射区层;
F. 采用第一掩膜版进行光刻,通过腐蚀,形成N型发射区;
G. 采用第二掩膜版进行光刻,通过离子注入和退火激活,在该P型基区上部形成P型浓基区和P型浓基区汇流条;
H. 生长氧化层,光刻腐蚀出N型发射区的接触孔和P型浓基区汇流条的接触孔;
I. 溅射金属层,通过光刻腐蚀形成发射极金属层和基极金属层;
J. 在N+型SiC衬底的下表面溅射集电极金属层。
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