[发明专利]光化学分析仪和液体深度传感器有效

专利信息
申请号: 201810760774.2 申请日: 2014-01-09
公开(公告)号: CN109000796B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 保罗·斯托克维尔;戴维·维德普;迈克尔·福斯特;乔纳森·斯托利 申请(专利权)人: 国际湿度分析仪器有限公司
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01N21/45;G01N21/85
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 杨静
地址: 英国西*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光化学 分析 液体 深度 传感器
【权利要求书】:

1.一种光化学分析仪,包括目标检测模块,所述目标检测模块被配置为检测期望类别的目标的存在性的改变,并当检测到期望类别的目标的存在性的预定改变时,输出目标改变信号;并且

其中,所述光化学分析仪被配置为使得基于所述目标检测模块输出所述目标改变信号,所述光化学分析仪的至少一部分从断电状态进入通电状态。

2.根据权利要求1所述的光化学分析仪,其中从断电状态进入通电状态的所述光化学分析仪的所述至少一部分可以是检测器和/或辐射源,所述辐射源被配置为入射在目标上,以便所述光化学分析仪根据所述目标的化学组成输出信号。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的光化学分析仪,其中所述目标是流体并且所述流体包含在容器中。

4.根据权利要求3所述的光化学分析仪,其中所述光化学分析仪被配置为位于所述容器外部。

5.根据权利要求3所述的光化学分析仪,其中所述容器是管道的一部分。

6.根据权利要求3所述的光化学分析仪,还包括:成像设备。

7.根据权利要求6所述的光化学分析仪,其中所述成像设备被配置为产生所述容器中的所述流体的图像。

8.根据任何权利要求6所述的光化学分析仪,还包括成像控制器,所述成像控制器被配置为使得所述成像控制器基于所述目标改变信号,选择性地向所述成像设备提供能量。

9.根据权利要求1或权利要求2所述的光化学分析仪,还包括悬浮物检测模块,所述悬浮物检测模块包括:第一强度传感器,被配置为测量在流体处引导的一定量的辐射入射到所述流体之前的强度;第二强度传感器,被配置为测量由所述流体背向散射的一定量的辐射的强度;以及处理器,被配置为将由所述第一强度传感器测量到的强度与由所述第二强度传感器测量到的强度进行比较,以便确定对在所述流体内的悬浮物的量加以指示的测量值。

10.根据权利要求1或权利要求2所述的光化学分析仪,其中所述光化学分析仪包括:

第一数量的辐射的源;

光学模块,被配置为引导所述第一数量的辐射,以便所述辐射入射到目标位置处的目标上或穿过所述目标位置处的目标,

所述光学模块还被配置为从所述目标接收第二数量的辐射并将所述第二数量的辐射引导至空间干涉傅里叶变换SIFT模块,所述SIFT模块包括第一色散元件和第二色散元件,所述SIFT模块被配置为使得所述第二数量的辐射中的由所述第一色散元件接收的部分,并使所述部分辐射与所述第二数量的辐射中的由所述第二色散元件接收到的部分相互干涉以便形成干涉图案;所述SIFT模块还包括检测器,被配置为捕获所述干涉图案的至少一部分的图像并基于捕获到的图像产生检测器信号;以及

处理器,被配置为从所述检测器接收所述检测器信号并对所述检测器信号执行傅里叶变换,从而获得所述第二数量的辐射的频谱。

11.根据权利要求10所述的光化学分析仪,其中所述第一数量的辐射是单色的;并且

其中所述SIFT模块还包括第三色散元件和第四色散元件,所述SIFT模块配置为使得由所述第三色散元件接收所述第一数量的辐射的一部分,并使所述部分辐射与所述第一数量的辐射中的由所述第四色散元件接收到的部分进行干涉,以便形成第二干涉图案;所述SIFT模块还包括第二检测器,被配置为捕获所述第二干涉图案的至少一部分的图像并基于由所述第二检测器捕获到的图像产生第二检测器信号;以及

处理器,被配置为从所述第二检测器接收所述第二检测器信号并对所述第二检测器信号执行傅里叶变换,从而获得所述第一数量的辐射的频谱,所述处理器还被配置为将所述第二数量的辐射的频谱与所述第一数量的辐射的频谱进行比较,以便产生吸收谱。

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