[发明专利]一种新型独立式检选机在审

专利信息
申请号: 201810760778.0 申请日: 2018-07-12
公开(公告)号: CN108962792A 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 朱红伟;张慧;王丽;蔡道库 申请(专利权)人: 江苏纳沛斯半导体有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 223002 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 检选机 移动杆 透气框 移杆 限位槽 内部设置 便捷性 独立式 固定槽 限位杆 限位块 移动 表面开设 表面设置 磁铁吸附 槽内部 定位槽 定位杆 定位块 磁铁 开合 位槽 位杆 维护
【说明书】:

发明公开了一种新型独立式检选机,包括检选机本体,所述检选机本体的表面设置有透气框,所述透气框固定在检选机本体的表面,所述透气框的内部开设有移杆槽,所述移杆槽的内部设置有移动杆,所述移动杆的两端均安装在移杆槽的内部,所述移动杆的表面开设有限位槽,所述限位槽的内部设置有限位杆;采用透气框、移动杆、限位槽和限位杆,移动杆通过移动使限位杆的两端在限位槽内部移动,同时移动杆的两端在移杆槽内部移动,增加透气框开合的便捷性,降低工人维护检选机的时间,提高检选机维护的便捷性,增加检选机工作的效率,采用限位块、定位槽、磁铁、固定槽、定位杆和定位块,限位块通过磁铁吸附在固定槽的内部。

技术领域

本发明属于晶圆检选设备技术领域,具体涉及一种新型独立式检选机。

背景技术

晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆;在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能之IC产品,晶圆检选机对8英寸和12英寸的晶圆进行筛分。现有的晶圆检选机在使用过过程中,检选机内部透气设备维护难度大,同时维护人员观察部件损坏情况耗费时间,增加检选机维护时间,降低晶圆检选机有效的工作时间,增加晶圆生产周期,提高晶圆生产成本的问题,为此我们提出一种新型独立式检选机。

发明内容

本发明的目的在于提供一种新型独立式检选机,以解决上述背景技术中提出的晶圆检选机在使用过过程中,检选机内部透气设备维护难度大,同时维护人员观察部件损坏情况耗费时间,增加检选机维护时间,降低晶圆检选机有效的工作时间,增加晶圆生产周期,提高晶圆生产成本的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种新型独立式检选机,包括检选机本体,所述检选机本体的表面设置有透气框,所述透气框固定在检选机本体的表面,所述透气框的内部开设有移杆槽,所述移杆槽的内部设置有移动杆,所述移动杆的两端均安装在移杆槽的内部,所述移动杆的表面开设有限位槽,所述限位槽的内部设置有限位杆。

优选的,所述限位杆为环形结构,所述限位杆的两端均固定在限位槽的内部,且所述限位杆两端的限位槽分别位于两根移动杆的表面。

优选的,所述移动杆的表面设置有拉杆,所述拉杆的一端固定在移动杆的表面,所述拉杆的一侧设置有限位块,所述限位块的一端固定在移动杆的表面,所述限位块的表面开设有定位槽,所述限位块的内部镶嵌设置有磁铁。

优选的,所述透气框上端的内部设置有固定槽,所述固定槽的内部设置有定位杆,所述定位杆的一端镶嵌在固定槽的内部,所述定位杆的另一端设置有定位块,所述定位块的一端固定在定位杆的一端,所述定位块的另一端贯穿固定槽的表面。

优选的,所述限位块和固定槽均为工字形结构,且所述限位块通过定位槽、磁铁、定位杆和定位块固定在固定槽的内部。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:采用透气框、移动杆、限位槽和限位杆,移动杆通过移动使限位杆的两端在限位槽内部移动,同时移动杆的两端在移杆槽内部移动,增加透气框开合的便捷性,降低工人维护检选机的时间,提高检选机维护的便捷性,增加检选机工作的效率,采用限位块、定位槽、磁铁、固定槽、定位杆和定位块,限位块通过磁铁吸附在固定槽的内部,同时定位杆通过外表面的弹簧使定位块镶嵌在定位槽的内部,增加限位块固定在固定槽内部的牢靠性,提高透气框闭合的稳定性。

附图说明

图1为本发明的检选机本体侧视结构示意图;

图2为本发明的检选机本体主视结构示意图;

图3为本发明的透气框闭合结构示意图;

图4为本发明的透气框打开结构示意图;

图5为本发明的移动杆、限位槽和限位杆放大结构示意图;

图6为本发明的移动杆、限位槽和限位杆剖面结构示意图;

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