[发明专利]功率测量方法和电子设备

权利要求书

1.一种功率测量方法，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括：滤波单元、功率测量单元和多个光谱测量单元，所述方法包括：

通过多个所述光谱测量单元，对来自超连续谱光源的光束进行测量，得到所述光束的多个波段的光谱数据，所述多个波段的光谱数据中若干波段的光谱数据为对数光谱数据，剩余波段的光谱数据为线性光谱数据；

将所述多个波段的光谱数据进行拼接，得到所述光束的总光谱数据，包括：

将所述线性光谱数据转换为转换对数光谱数据，并在所述对数光谱数据和所述转换对数光谱数据中选取任意一个光谱数据作为基准对数光谱数据；

在剩下的所述对数光谱数据和所述转换对数光谱数据中，选取对应的波段与所述基准对数光谱数据的波段有重合的光谱数据，作为待拼接对数光谱数据；

基于所述基准对数光谱数据和所述待拼接对数光谱数据的重合波段，按照预设算法计算得到连接波长；

在所述基准对数光谱数据和所述待拼接对数光谱数据中，分别获取与所述连接波长相应的基准对数强度值和待拼接对数强度值；

将所述待拼接对数强度值减去所述基准对数强度值，得到偏差值，并根据所述偏差值，将所述待拼接对数光谱数据中的全部对数强度值减去所述偏差值，以将所述待拼接对数光谱数据和所述基准对数光谱数据在所述连接波长处拼接在一起；

将拼接后的所述基准对数光谱数据和所述待拼接对数光谱数据作为新的基准对数光谱数据，并基于所述新的基准对数光谱数据，执行所述在剩下的所述对数光谱数据和所述转换对数光谱数据中，选取对应的波段与所述基准对数光谱数据的波段有重合的光谱数据，作为待拼接对数光谱数据的步骤，直至将所述多个波段的光谱数据全部拼接在一起，得到所述光束的总对数光谱数据；

将所述光束的总对数光谱数据进行转换，得到所述光束的总线性光谱数据；

通过所述滤波单元，对来自所述超连续谱光源的光束进行滤波处理，得到预设波段的光束；

通过所述功率测量单元，对所述预设波段的光束进行测量，得到所述预设波段的光束的功率；

根据所述光束的总光谱数据和所述预设波段的光束的功率，生成所述光束的总功率，包括：

将所述光束的总线性光谱数据进行求和，得到所述光束的光谱总强度；

在所述光束的总线性光谱数据中选取所述预设波段的光谱数据并进行求和，得到所述预设波段的光束的光谱强度；

根据所述光束的光谱总强度、所述预设波段的光束的光谱强度和所述预设波段的光束的功率，生成所述光束的总功率。

2.如权利要求1所述的功率测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述光束的光谱总强度除以所述光束的总功率，得到所述光束的光谱总强度和所述光束的总功率之间的比例值；

将所述光束的光谱总强度中的全部的强度值除以所述比例值，得到所述光束的光谱功率密度数据；

根据所述光束的总对数光谱数据、所述光束的总线性光谱数据和所述光束的光谱功率密度数据进行绘制，分别得到所述光束的总对数光谱图、所述光束的总线性光谱图和所述光束的功率密度分布图。

3.如权利要求1所述的功率测量方法，其特征在于，按照如下公式根据所述光束的光谱总强度、所述预设波段的光束的光谱强度和所述预设波段的光束的功率，生成所述光束的总功率：

式中，表示所述光束的总功率，表示所述光束的光谱总强度，表示所述预设波段的光束的光谱强度，表示所述预设波段的光束的功率。