[发明专利]一种CRT固定座斜孔校验治具及其方法在审
申请号: | 201810761933.0 | 申请日: | 2018-07-12 |
公开(公告)号: | CN108917546A | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | 王小慧;徐松;常红梅 | 申请(专利权)人: | 优德精密工业(昆山)股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/14 | 分类号: | G01B5/14;G01B5/18 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215316 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 斜孔 固定座 校验 治具 塞规 孔距 治具主体 最小距离 冲头孔 超差 辅助测量 可插入 检测 减去 卡尺 刻印 削边 配对 测量 | ||
本发明公开了一种CRT固定座斜孔校验治具及其方法,CRT固定座斜孔校验治具,包括治具主体、辅助测量台阶和可插入塞规的避位结构,治具主体上设有计算斜孔深度所需要的尺寸。校验方法包括以下步骤:(1)将避位结构对应冲头孔,插入CRT固定座斜孔最底部;(2)确认CRT固定座斜孔校验治具平面露出CRT固定座平台的高度A,根据刻印尺寸,高度尺寸A计算,并判断斜孔深度是否超差,从而确定斜孔深度是否合格;(3)冲头孔配对应塞规,用卡尺测量治具削边与塞规的最小距离尺寸B,将最小距离尺寸B减去塞规半径,得出CRT固定座斜孔孔距,并判断斜孔孔距是否超差,从而确定斜孔孔距是否合格。本发明极大的提高了检测效率和检测精度。
技术领域
本发明涉及一种CRT固定座斜孔校验治具及其方法,属于校验技术领域。
背景技术
目前CRT固定座斜孔在校验过程中存在着以下几点问题:(1)斜孔孔深无法直接检测,需要在电子图档中测量出尺寸,再用塞规测量算出结果比对。传统测量方式无法直接测量孔深,校验精度误差很大。传统测量方式需要电子图档中测量尺寸,再经过复杂计算出结果对比,校验用时长,效率不高。(2)斜孔距采用TISA投影机表面投影,15度斜度需要配塞规后卧式投影机测量。传统测量方式需要配置塞规,投影机测量繁琐,校验用时长,效率不高。(3)使用传统的测量方式,测量时间需要3~4分钟/支,校验效率不高。
综上所述传统的测量方式耗时时间长,校验精度误差大,校验CRT固定座斜孔的效率低。传统的测量方式无法满足高校验精度,高校验效率,耗时短等要求。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明目的是提供一种CRT固定座斜孔校验治具及其方法,极大的提高了检测效率和检测精度。
为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现:
本发明的一种CRT固定座斜孔校验治具,包括治具主体、辅助测量台阶和可插入塞规的避位结构,所述治具主体上设有计算斜孔深度所需要的尺寸;所述辅助测量台阶为从斜孔的圆心处削平边。
本发明的CRT固定座斜孔校验治具的校验方法,包括以下步骤:
(1)将避位结构对应冲头孔,插入CRT固定座斜孔最底部,且保证加工平面与CRT固定座斜孔端平面水平对齐;
(2)确认CRT固定座斜孔校验治具平面露出CRT固定座平台的高度A,根据刻印尺寸,将削边面到底端面的距离加上高度A,从而确定斜孔深度是否合格;
(3)冲头孔配对应塞规,用卡尺测量辅助测量台阶(1)与塞规的最小距离尺寸B,将最小距离尺寸B减去塞规半径,得出CRT固定座斜孔孔距,并判断斜孔孔距是否超差,从而确定斜孔孔距是否合格。
步骤(2)中,采用卡尺或者高度规确认CRT固定座斜孔校验治具平面露出CRT固定座平台的高度A。
步骤(2)中,公差在±0.2范围内为合格。
步骤(3)中,公差在±0.13范围内为合格。
本发明的固定座斜孔校验治具,校验精度高、结构简单可靠、使用方便快捷,改善了传统校验方式在使用过程中遇到的各类问题。本发明可孔深、孔距一次性全检,由3-4分钟/支的测量时间缩短到只需15~20秒/支,大大提高检验效率及检验质量。
附图说明
图1是CRT固定座斜孔校验治具的结构示意图;
图2是CRT固定座结构图;
图3是CRT固定座斜孔深度校验示意图;
图4是CRT固定座斜孔距离校验示意图。
具体实施方式
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