[发明专利]一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法

权利要求书

1.一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法，包括：使用多个检测器对光源经近似均匀的非透明被测物体后的出射光进行检测，在多检测器获得被测物体差分光密度ΔOD的基础上，对差分光密度差异ΔOD’进行计算，并对差分光密度差异曲线的特征参数进行提取，根据所提取的特征参数判定介质中是否存在异质体以及异质体的横向和纵向位置。其特征在于包括以下步骤：

第一步：对近似均匀的非透明被测物体进行检测时，采用“一光源-多探测器”或“多光源-多探测器”的阵列方式，各个检测器依次排开或交替排开，不限于各个检测器间的距离。

第二步：在多个检测器获得被测物体差分光密度ΔOD的基础上，将相邻位置检测器得到的差分光密度ΔOD相减，得到差分光密度差异ΔOD′，表示在该位置时差分光密度的变化趋势，如公式1；

ΔOD′＝ΔOD_i+1-ΔOD_i，(i＝1，2，...，n-1) (1)

第三步：将多探测器得到的差分光密度差异ΔOD′依次连接，得到差分光密度差异曲线；当差分光密度差异曲线为一条恒等于0或平直的直线时，说明被测物体内无异质体。当差分光密度差异曲线不为0或趋势变化明显时，说明被测物体内有异质体；

第四步：采用高斯等曲线拟合的方法，提取差分光密度差异曲线拟合的特征参数来判定被测物体是否含有异质体及其位置，具体参数包括峰值、峰值所在位置和峰宽。通过差分光密度差异曲线的峰值大小，可判定被测物体内的异质体的纵向位置；通过差分光密度差异曲线的峰值所在位置，可判定被测物体内的异质体的横向位置；通过差分光密度差异曲线的峰宽，可判定被测物体内的异质体的大小。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法，其特征在于，第一步中，光源和检测器的阵列排布方式可依次排开也可交替排开，也不限于此。

3.根据权利要求1所述的一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法，其特征在于，第二步中，采用将相邻位置检测器得到的差分光密度进行相减，得到差分光密度差异(ΔOD′)。

4.根据权利要求1所述的一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法，其特征在于，第二步中，差分光密度差异的计算公式为：ΔOD′＝ΔOD_i+1-ΔOD_i，(i＝1，2，...，n-1)。

5.根据权利要求1所述的一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法，其特征在于，第三步中，分析差分光密度差异曲线的变化趋势，判定被测物体是否含有异质体。

6.根据权利要求1所述的一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法，其特征在于，第四步中，采用高斯等曲线拟合提取特征参数的方法分析差分光密度差异曲线，判定被测物体内异质体的位置和大小。具体参数包括峰值、峰值所在位置和峰宽。通过差分光密度差异曲线的峰值大小，可判定近似均匀的非透明介质中异质体的纵向位置；通过差分光密度差异曲线的峰值所在位置，可判定近似均匀的非透明介质中异质体的横向位置；通过差分光密度差异曲线的峰宽，可判定近似均匀的非透明介质中异质体的大小。