[发明专利]一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：针对每台未被占用的压测机，根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定的第一线程并发影响因子，及该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数、所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数及所述服务端对应的响应时间，确定该压测机对应的吞吐量；根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合。用以提供一种能保证对服务端的测试需求的压测机选择方案。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着互联网的蓬勃发展，网络用户的数量呈现指数增长，为用户提供数据服务的服务端，也称服务器端，面临着越来越大的负载压力，过大的负载压力可能会导致服务端出现响应迟缓、宕机等情况，严重影响用户的体验。因此对服务端的性能进行测试，确定服务端所能承载的最大负荷，定位服务端的性能瓶颈，以保证每个用户的用户体验，成为一个重要的问题。

现有技术在对服务端进行测试时，通常采用性能下降曲线分析法，通过识别性能拐点，为服务端性能瓶颈的确定和调优提供依据。然而现有技术在选择对服务端进行测试的压测机时，通常是根据经验选择一台或多台压测机模拟用户并发对服务端进行测试，很容易出现选择的压测机的性能不能满足对服务端进行测试的需求的情况，因此急需一种压测机选择方案，用以保证选择的压测机能够满足对服务端进行测试的需求。

发明内容

本发明提供一种压测机选择方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术中存在选择的压测机的性能不能满足对服务端进行测试的需求的问题。

第一方面，本发明公开了一种压测机选择方法，所述方法包括：

根据基准业务复杂度与服务端被测业务复杂度的比值，确定第一线程并发影响因子；

针对每台未被占用的压测机，根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子；根据所述第一线程并发影响因子和该压测机对应的第二线程并发影响因子，确定该压测机对应的线程并发影响系数；根据所述线程并发影响系数及所述基准压测机对应所述基准业务的基准线程并发数，确定该压测机对应所述被测业务的线程并发数，并根据所述线程并发数与所述服务端对应的响应时间的比值，确定该压测机对应的吞吐量；

根据对所述服务端测试需求的目标吞吐量，及各未被占用的压测机对应的吞吐量，确定满足所述目标吞吐量的压测机候选组合，并选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合，其中每个所述压测机候选组合中包括至少一台未被占用的压测机。

采用本发明的压测机选择方法，充分的考虑到服务端被测业务复杂度与压测机硬件性能对压测机吞吐量的影响，并根据对服务端测试需求的目标吞吐量，确定满足目标吞吐量的压测机候选组合，保证了选取的压测机满足对服务端的测试需求，进而保证了对服务端测试的效果。

可选的，所述选取任意一个压测机候选组合作为选定的压测机组合包括：

选取对应总吞吐量最小的压测机候选组合作为选定的压测机组合。

通过该可选方式，能够避免选择的压测机性能过剩，造成压测机的资源浪费，提高压测机资源的利用率。

可选的，所述根据该压测机的硬件性能值与基准压测机的硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二线程并发影响因子包括：

根据该压测机的CPU的第一子硬件性能值与所述基准压测机的CPU的第一子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第一子线程并发影响因子；根据该压测机的内存的第二子硬件性能值与所述基准压测机的内存的第二子硬件性能值的比值，确定该压测机对应的第二子线程并发影响因子；