[发明专利]电子元件测试装置有效

专利信息
申请号: 201810762859.4 申请日: 2018-07-12
公开(公告)号: CN108692662B 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 冯宏伟;徐绘;冯宏图;高莹 申请(专利权)人: 榆林学院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01R31/00
代理公司: 苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙) 32344 代理人: 李锋
地址: 719000 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 测试 装置
【权利要求书】:

1.电子元件测试装置,其特征在于,其包括多工位转动盘组件、尺寸检测组件和电性能检测组件,其特征在于,所述多工位转动盘组件至少包括转动盘和固定盘,其中,所述转动盘的下方同轴设置有固定盘,所述转动盘相对于所述固定盘沿着其中心轴线分度转动;所述转动盘上圆周阵列设置有多个对电子元件进行定位的定位槽;所述定位槽的底部固定设置有对电子器件进行支撑的透明支撑板,所述定位槽内设置有对所述电子器件进行定位的顶紧组件;所述透明支撑板上设置有对所述电子器件进行负压吸附的负压固定组件;所述尺寸检测组件包括光束发射器和光束接收器组件,所述固定盘上至少设置有一个安装光束发射器的盲孔,所述光束发射器的正上方且位于所述转动盘的上方设置有所述光束接收器组件,所述光束接收器组件根据其接收的光对电子元件的尺寸进行检测;所述转动盘的上方还设置有电性能检测组件,所述电性能检测组件对电子元件的电性能进行检测;所述多工位转动盘组件还包括驱动电机、齿轮组、支撑转动件和电机罩,所述转动盘的下端一体设置有驱动轴,所述驱动轴为上大下小的阶梯结构,所述驱动电机的输出轴与所述驱动轴的下端之间采用齿轮组啮合传动,所述驱动电机固定设置在所述固定盘的下部,所述驱动轴采用轴承支撑于所述固定盘的中心阶梯槽内,所述驱动轴的阶梯结构大端的下端面与所述固定盘的中心阶梯槽上端面之间设置有可转动的支撑转动件,所述驱动电机的外部设置有固定于所述固定盘上的电机罩,所述驱动电机驱动所述转动盘相对于所述固定盘转动;

所述负压固定组件包括真空发生器,所述透明支撑板嵌入设置在所述转动盘的定槽内,所述转动盘上还固定设置有真空发生器,所述透明支撑板内设置有气道,所述透明支撑板的上端面设置有多个负压吸附孔,所述负压吸附孔与所述气道连通,所述气道与所述真空发生器连接;

所述电性能检测组件包括检测主轴、外保护套壳、内固定套、定位安装座、弹簧、安装簧片、检测头和检测盘,所述外保护套壳的上端固定在所述检测主轴的下端,所述外保护套壳内部同轴设置有内固定套,所述内固定套中水平固定有定位安装座,所述定位安装座的下端采用多根弹簧连接有安装簧片,所述安装簧片的外周固定于所述内固定套内壁上,且所述安装簧片为弹性结构,所述安装簧片的下端采用检测头连接固定有检测盘,所述检测盘上设置有多个对电子元件进行电性能检测的检测触头,所述检测主轴可调节位置的设置在检测机架上;所述光接收组件包括调节座、检测盘和光束接收器,所述光束接收器固定在所述检测盘的下端面上,所述检测盘固定在所述调节座上,所述调节座可调节的设置在检测机架上,所述光接收器正对朝向所述光束发射组件设置;

所述光束接收器包括方形检测板和阵列设置在所述方形检测板上的光接收探头组件,所述光接收探头以等间距成排成列的方式排列布置在所述方形检测板上,所述光接收探头正对朝向所述光束发射组件设置,根据能够接收到光束信号的光接收探头的位置实现对电子元件轮廓尺寸的检测;

所述光接收探头组件包括内层板、中间层板、外层板、光束接收探头和聚光镜,所述内层板固定在所述检测盘上,所述外层板采用所述中间层板固定连接在所述内层板上,所述聚光镜安装在所述中间层板上,所述光接收探头定位在所述内层板上,所述内层板、中间层板和外层板均为透光材料制成,光束发射器发射的光束经过所述聚光镜聚光后照射在所述光束接收探头上,实现对光束的接收;

所述内层板、中间层板、外层板上位于所述光束接收探头的位置设置有槽口。

2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置,其特征在于:所述顶紧组件包括横向顶紧气缸和纵向顶紧气缸,所述横向顶紧气缸和纵向顶紧气缸均为两个,两个所述横向顶紧气缸分别布置在所述转动盘的定位槽的一个横向侧壁的两端,两个所述纵向紧气缸分别布置在所述转动盘的定位槽的一个纵向侧壁的两端,另一个横向侧壁和另一个纵向侧壁为对电子元件进行定位的基准面。

3.根据权利要求1-2任意一项所述的电子元件测试装置,其特征在于:还包括控制器,所述控制器控制所述多工位转动盘组件、尺寸检测组件和电性能检测组件的动作。

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