[发明专利]一种可消除多色误差的OCT共轭镜像去除装置及方法在审
申请号: | 201810766682.5 | 申请日: | 2018-07-13 |
公开(公告)号: | CN108956533A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 钟舜聪;林杰文;张秋坤 | 申请(专利权)人: | 福州大学 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350108 福建省福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多色 干涉信号 宽带光源 共轭 去除装置 相移量 去除 超辐射发光二极管 快速傅里叶变换 修正 光栅 系统误差 信号重构 压电陶瓷 分光镜 固定相 容忍度 上位机 数据量 准直器 组变化 波长 刻线 物镜 重构 探测 | ||
1.一种可消除多色误差的OCT共轭镜像去除装置,其特征在于:包括CCD相机、刻线光栅、上位机、压电陶瓷、分光镜、样品、物镜、GRIN光纤准直器及超辐射发光二极管;
所述超辐射发光二级管所发射出的光经过一GRIN光纤准直器准直成一束平行光;该平行光经过一物镜被聚焦,然后经过一分光镜被分成功率相等的两束光,一束为样品光,一束为参考光;样品光射向样品,参考光射向压电陶瓷;当两束具有一定光程差的光重合时产生干涉;产生的干涉信号被所述刻线光栅按波长展开并被一CCD相机所捕获;CCD相机与上位机电性连接;所述上位机与压电陶瓷电性连接;所述参考光经压电陶瓷被被上位机接收;所述上位机通过输出电压来控制压电陶瓷伸缩量。
2.根据权利要求1所述的可消除多色误差的OCT共轭镜像去除装置,其特征在于:还包括采光镜、狭缝及反射镜;干涉信号依次通过采光镜、狭缝、反射镜射向刻线光栅。
3.根据权利要求1所述的可消除多色误差的OCT共轭镜像去除装置,其特征在于:还包括一柱透镜;所述柱透镜设置在刻线光栅与CCD相机之间。
4.一种可消除多色误差的OCT共轭镜像去除方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤S1:由一超辐射发光二级管所发射出的光经过一GRIN光纤准直器准直成一束平行光;
步骤S2:该平行光经过一物镜被聚焦,然后经过一分光镜被分成功率相等的两束光,一束为样品光,一束为参考光;当两束具有一定光程差的光重合时产生干涉;
步骤S3:产生的干涉信号被一刻线光栅按波长展开并被一CCD相机所捕获;CCD相机所捕获的干涉信号如式(1)所示:
I(k)=DC+AC+∑nAnr(k)exp[-j2k(zn-zr)] (1)
DC=Irr(k)+∑nInn(k) (2)
AC=∑n≠mAnm(k)exp[-j2k(zn-zm)] (3)
其中,DC为直流信号,AC为样品臂各层的自相干信号,Anr是光源的光强分布函数,zn和zm是样品臂的光程,zr是参考臂的光程,k为波数;
步骤S4:对的CCD所捕获的不同相位的干涉信号进行信号重构,得到一组变化的相移量;
步骤S5:对重构后的干涉信号进行傅里叶变换,除共轭镜像,获得的样品的深度信息。
5.根据权利要求4所述的可消除多色误差的OCT共轭镜像去除方法,其特征在于:步骤S4包括以下步骤:
步骤S41:将公式(1)简化为式(4)
其中,为各反射层干涉信号的合相位,为经过波长修正后的相移量,将随着波长的变化而变化;
步骤S42:通过上位机控制NI采集卡输出电压控制压电陶瓷伸缩量来获得移相步长为90°的五个干涉信号,其公式表达如式(5)所示:
通过式(5),计算出各个波长处的干涉信号的强度与相位:
步骤S43:重构后的干涉信号表示为:
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