[发明专利]一种专用光致发光光谱测量的CCD光谱仪有效
申请号: | 201810768101.1 | 申请日: | 2018-07-13 |
公开(公告)号: | CN109030427B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | 于立民 | 申请(专利权)人: | 上海倍蓝光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N21/64;G01N21/01 |
代理公司: | 上海昱泽专利代理事务所(普通合伙) 31341 | 代理人: | 孟波 |
地址: | 201517 上海市金山*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 专用 光致发光 光谱 测量 ccd 光谱仪 | ||
1.一种专用光致发光光谱测量的CCD光谱仪,包括入射狭缝、准直镜、光栅、成像反射镜以及CCD探测器;标准光源自入射狭缝射入CCD光谱仪并依次经过准直镜、光栅、成像反射镜以及CCD探测器;
其特征在于,所述CCD探测器与成像反射镜之间设置有伸缩式陷光挡板,所述陷光挡板为低反射率挡板。
2.根据权利要求1所述的CCD光谱仪,其特征在于,所述陷光挡板通过驱动机构实现伸缩运动。
3.根据权利要求2所述的CCD光谱仪,其特征在于,处于完全伸展状态的陷光挡板完整地覆盖所述CCD探测器的探测面。
4.根据权利要求2所述的CCD光谱仪,其特征在于,所述驱动机构包括控制系统和电机,所述控制系统通过控制电机来驱动陷光挡板做伸缩运动。
5.根据权利要求4所述的CCD光谱仪,其特征在于,所述驱动机构根据激发峰的波长调节所述陷光挡板的伸缩位置,并确保挡住所述激发峰而仅通过发射峰。
6.根据权利要求4所述的CCD光谱仪,其特征在于,所述标准光源从狭缝射入CCD光谱仪,经过准直镜形成平行光,再经由光栅进行分光形成单色光分布,单色光打到成像反射镜,最后经过成像反射镜汇聚成单色光在像面上的分布。
7.根据权利要求6所述的CCD光谱仪,其特征在于,对所述标准光源的标定包括光谱标定和信号绝对幅值标定。
8.根据权利要求7所述的CCD光谱仪,其特征在于,所述光谱标定采用汞氩灯作为标准源,并对所述控制系统的定位精度进行标定。
9.根据权利要求1所述的CCD光谱仪,其特征在于,还包括光谱采集系统,所述光谱采集系统设置有与之关联的控制系统、采集系统以及标定系统。
10.根据权利要求1所述的CCD光谱仪,其特征在于,所述CCD光谱仪依次通过光纤和SMA适配器与积分球相连,所述积分球的底部设置有样品架。
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