[发明专利]一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置

说明书

本发明公开了一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，包括基座，所述的基座上安装有作业台，所述的作业台上设有初级筛选机构和二级筛选机构，所述的二级筛选机构位于初级筛选机构的左下侧位置，所述的二级筛选机构上设有若干道传动装置，所述的输料管与最右侧的传动装置的输料端相对应，所述的传动装置上均设有传送带，相邻的传动装置之间均设有精筛器，所述的精筛器中设有一对筛板，所述的筛板左右两侧各有一个并且通过锁合齿相嵌合，所述的齿轮的底端安装有转轴，所述的转轴的底端安装有千分尺。本发明利用千分尺对筛板的间隙进行调节，保证电子晶粒根据尺寸的大小进行分级筛选。

技术领域

本发明涉及一种电子仪器，具体是一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置。

背景技术

电子仪器是指检测、分析、测试电子产品性能、质量、安全的装置。大体可以概括为电子测量仪器、电子分析仪器和应用仪器三大块，有光学电子仪器、电子元件测量仪器、动态分析仪器等分类。

电子晶粒其主要功能是:把电能转化为光能，芯片的主要材料为单晶硅。半导体晶片由两部分组成，一部分是P型半导体，在它里面空穴占主导地位，另一端是N型半导体，在这边主要是电子。但这两种半导体连接起来的时候，它们之间就形成一个P-N结；当电流通过导线作用于这个晶片的时候，电子就会被推向P区，在P区里电子跟空穴复合，然后就会以光子的形式发出能量，这就是LED发光的原理。而光的波长也就是光的颜色，是由形成P-N结的材料决定的。

现有电子元件技术对于电子筛选主要采用震动过滤筛选或者AOI检测筛选，震动过滤筛选无法精确的区分晶粒的大小，同时易造成晶粒的损伤，AOI检测时采用摄像放大技术，对晶粒的大小进行判断，虽然精确度高，但是效率低下，成本高昂。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，包括基座，所述的基座上安装有作业台，所述的作业台上设有初级筛选机构和二级筛选机构。所述的初级筛选机构的顶端安装有入料斗，入料斗的底端安装有降温管，所述降温管的左右两侧均设有冷却器，所述的入料斗的底端设有筛选腔，所述的入料斗的出料口处连接有去杂腔，去杂腔的底端连接有细导管，所述的细导管伸入筛选腔中，所述的筛选腔的左侧安装有吹分机，所述的筛选腔的右侧安装有静电集料袋，所述的吹分机的吹风口与静电集料袋的入料口相对应，所述的筛选腔的下方设有集料斗，所述的集料斗与筛选腔之间设有精密滤网，所述的集料斗的底端设有输料管。初级筛选机构起到除杂、降尘、粗筛得效果，为后续的精密筛选作准备。

作为本发明进一步的方案：所述的二级筛选机构位于初级筛选机构的左下侧位置，所述的二级筛选机构上设有若干道传动装置，所述的输料管与最右侧的传动装置的输料端相对应，所述的传动装置上均设有传送带，相邻的传动装置之间均设有精筛器，所述的精筛器中设有一对筛板，所述的筛板左右两侧各有一个，左右两侧的筛板的底端均连接有连接杆，所述的连接杆一端均安装在筛板上，连接杆的一端均连接有齿条，所述的齿条的内平面均设有锁合齿，所述的左右两侧的齿条之间均设有齿轮，所述的左右两侧的齿条均通过锁合齿相嵌合，所述的齿轮的底端安装有转轴，所述的转轴的底端安装有千分尺。利用千分尺对筛板的间隙进行调节，保证电子晶粒根据尺寸的大小进行分级筛选。

作为本发明进一步的方案：所述的输料管的直径小于两个电子晶体的直径总和，确保电子晶体每次单片通过。

作为本发明进一步的方案：所述的左右两侧的筛板之间均存在间隙，所述的筛板的底端均设有下料斗，下料斗的底端均设有软管，所述的软管的底端均连接有静电集料盒，对电子晶体进行收集并确保晶体的安全性。

作为本发明进一步的方案：所述的筛板与传送带位于同一水平面上，确保筛选的精密性。