[发明专利]一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法

说明书

本发明公开了一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其包括以下步骤：S1、获取辐射天线的近场辐射场强分布数据和被测对象的三维仿真数据；S2、根据近场辐射场强分布数据获取单次辐射的有效区域；根据被测对象的三维仿真数据建立三维仿真模型；S3、在三维仿真模型中根据单次辐射的有效区域获取辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息；S4、根据辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息自动调整辐射天线的实际位置。本发明保证了被测对象被全方位辐射覆盖，又提高了测试效率，避免了人工调整测试位置带来的测试精度误差，有效提高了辐射敏感度的测试准确度。

技术领域

本发明涉及辐射敏感度测试领域，具体涉及一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法。

背景技术

来自舰船、地面或机载雷达、通信、广播电视等功率辐射的不断增多增强，已经对装备系统电子电气设备、系统造成严重威胁。外部射频环境的高强辐射场是复杂电磁环境的重要组成部分，现代设备的研制必须考虑复杂电磁环境下的高强辐射场。强电磁环境下，如果不采取应对措施，将导致设备系统感知迷茫，指挥协同紊乱，用频装备效能降低。为了保护系统级装备的关键性系统免受高强辐射场的不利影响，对该类目标必须进行高强辐射场或外部射频环境敏感性验证试验。对于民用飞行器，欧洲颁布DO-160适航测试标准；对军用装备，中国颁布GJB1389A和GJB151等标准。

由于被测对象具有复杂的三维表面(如飞机或其他大型设备)，现有测试通过人员移动辐射天线难以保证被测对象被3dB辐射场强充分覆盖，使得测试效率低、操作难度大。

发明内容

针对现有技术中的上述不足，本发明提供的一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法解决了现有辐射位置调整难导致测试效率低的问题。

为了达到上述发明目的，本发明采用的技术方案为：

提供一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其包括以下步骤：

S1、获取辐射天线的近场辐射场强分布数据和被测对象的三维仿真数据；

S2、根据近场辐射场强分布数据获取单次辐射的有效区域；根据被测对象的三维仿真数据建立三维仿真模型；

S3、在三维仿真模型中根据单次辐射的有效区域获取辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息；

S4、根据辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息自动调整辐射天线的实际位置。

进一步地，步骤S1中获取辐射天线的近场辐射场强分布数据的具体方法为：

通过三维电磁仿真软件建立辐射天线三维模型，并通过仿真软件获取辐射天线1m-3m处的近场辐射场强数据，进而得到辐射天线的近场辐射场强分布数据；

或者通过近场探头测试距离辐射天线1m-3m处的近场场强分布数据，进而得到辐射天线的近场辐射场强分布数据。

进一步地，步骤S1中获取被测对象的三维仿真数据的具体方法为：

通过摄像扫描方式或激光扫描方式获取被测对象的三维参数，根据该三维参数得到三维仿真数据。

进一步地，步骤S2中根据近场辐射场强分布数据获取单次辐射的有效区域的具体方法为：

若近场辐射场强分布数据中的场强方位为圆形，则取圆形中最大的矩形作为单次辐射的有效区域，其中单次辐射的有效区域的面积S为

其中φ(f，L)为圆形的直径；f为辐射频率；L为辐射距离；

若近场辐射场强分布数据中的场强方位为椭圆形，则取椭圆形中最大的矩形作为单次辐射的有效区域，其中单次辐射的有效区域的面积S为

S＝2A(f，L)*B(f，L)