[发明专利]一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路及方法

说明书

本发明公开了一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路及方法，属于电子技术领域。本发明提供的LM317芯片故障检测电路操作简单，连接方便，只需将待检测的LM317芯片插入连接底座便可检测；能够高效直观、方便简单地检测一个LM317芯片是否存在故障；使用这样的电路，可以在使用LM317芯片前，检测其是否已存在故障；可以在含有LM317的电路出现故障时，判断故障是否是由LM317芯片损坏而造成，方便排除电路故障。

技术领域

本发明涉及一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路及方法，属于电子技术领域。

背景技术

LM317芯片是一种可调式三端稳压器，是应用最为广泛的电源集成电路芯片之一，广泛应用于线性稳压，服务于多种应用场合，包括局部稳压，卡上稳压，可编程输出稳压器，精密稳流器等。LM317芯片在全世界范围内得到了广泛的应用。

正因如此，随着LM317芯片的大规模应用，LM317芯片的故障检测问题也普遍存在。实际中存在以下问题：

1、在LM317芯片使用前，如果可以检测出该LM317芯片是否正常，排除使用前就已损坏的芯片，将可以在一开始就避免故障，防止不必要的损失。但是LM317芯片是否正常无法单独、直接地检测，需要在其实际的电路中通过检测其工作状态，才能判断该芯片是否正常，有无故障。

2、在LM317芯片使用过程中，如果LM317应用电路出现故障，一般先判断电路故障是否是由于LM317芯片的故障造成，按照传统的电路故障检测方法，需要对整个电路的工作状态进行判断，进而再判断LM317芯片的工作状态，这样的检测需要对LM317芯片的工作特性熟悉，并且过程复杂，检测时间长。

所以，在实际中需要一种高效直观、简单方便的LM317芯片故障检测电路及方法。

发明内容

本发明提供了一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路及方法，以用于通过合理的构成及连接构建基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路，并通过该检测电路采用本发明的方法步骤进行故障检测。

本发明的技术方案是：一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路，包括LM317稳压电路1、差分运算电路3、电源电路5和单片机控制电路6；差分运算电路3由差分运算器Ⅰ2和差分运算器Ⅱ4构成；其中LM317稳压电路1中连接底座的4、5引脚与差分运算器Ⅰ2的输入端口连接，LM317稳压电路1的输出端与差分运算器Ⅱ4的输入端口连接，差分运算器Ⅰ2和差分运算器Ⅱ4的输出端分别与单片机控制电路6连接，电源电路5中12V输出端的正极同时与LM317稳压电路1输入端、差分运算电路3中LM358芯片的Vcc引脚连接，电源电路5中5V输出端的正极与单片机控制电路6中单片机的Vcc引脚连接，电源电路5中5V输出端的负极与单片机控制电路6中单片机的Gnd引脚连接。

所述LM317稳压电路1由连接底座，电阻R1、R2，电容C1、C2、C3共同构成；其中被检测的LM317芯片的Vin、Adjust、Vout引脚分别与连接底座的1、2、3引脚连接，连接底座中的6、5、4引脚分别与连接底座中的1、2、3引脚相互连通，连接底座的6号引脚接电容C1的正极且电容C1的正极还与电源电路5中12V输出端的正极连接，连接底座的5号引脚接电阻R1一端、电阻R2一端、电容C2的正极、差分运算器Ⅰ2中电阻R3的一端，连接底座的4号引脚接差分运算器Ⅰ2中电阻R4的一端、电阻R2的另一端、电容C3的正极且电容C3的正极还与差分运算器Ⅱ4中电阻R8的一端连接，电容C1的负极、电容C2的负极、电容C3的负极、电阻R1的另一端接地且电容C3的负极还与差分运算器Ⅱ4中电阻R9的一端连接。