[发明专利]近景摄影测量方法

权利要求书

1.一种近景摄影测量方法，用于确定同名像点，

获取至少两幅包括重叠图像的影像；

选用点特征提取算子提取所述影像的特征像点；

根据预设条件匹配不同所述影像的特征像点为同名像点；

根据同名像点和相机参数建立局部坐标系并求取局部坐标系下影像及同名像点的坐标；

量测控制点并基于共线方程求取控制点在物方坐标系中的像点坐标；

获取的影像及同名像点在局部坐标的坐标，归入到量测的控制点所在的物方坐标系中；

根据控制点在局部坐标系的坐标及物方坐标，进行绝对定向即空间坐标相似变换，求解局部坐标系和物方坐标系之间的旋转角度、坐标原点的相对位移及坐标比例尺系数，确定影像在物方坐标系的外方位元素及同名像点在控制点所在物方坐标系下的坐标的初始值；

将物方坐标下影像的外方位元素及同名点坐标，作为光束法平差的初始值，以控制点、相机内参数作为已知条件，利用严格的共线方程平差模型求解，精确地确定物方坐标系下影像的外方位元素及影像上同名像点对应目标上点的三维坐标。

2.如权利要求1所述的近景摄影测量方法，其特征在于，所述的获取至少两幅包括重叠图像的影像与所述的提取所述影像的特征像点之间，包括：对至少一副所述影像进行预处理。

3.根据权利要求2所述的近景摄影测量方法，其特征在于，所述的对至少一副所述影像进行预处理，包括：选用Wallis滤波器对至少一幅所述的影像增强处理；

选用点特征提取算子提取增强处理后所述图像的特征像点。

4.根据权利要求2所述的近景摄影测量方法，其特征在于，所述的对至少一副所述影像进行预处理，包括：选用低通滤波器对至少一幅所述影像进行低通滤波，生成像素依次减少的影像序列。

5.根据权利要求1所述的近景摄影测量方法，其特征在于，所述的选用点特征提取算子提取所述影像的特征像点，包括：基于Harris算子和/或Forstner算子提取所述影像的特征像点。

6.如权利要求5所述的近景摄影测量方法，其特征在于，所述的基于Harris算子和算子提取所述影像的特征像点，包括：选用Harris算子提取所述图像的部分特征像点作为中心像点；

选用所述中心像点作为算子的窗口中心点，对所述窗口进行重心加权处理后精确提取所述图像的特征像点。

7.如权利要求1所述的近景摄影测量方法，其特征在于，所述的选用点特征提取算子提取所述影像的特征像点，包括：将所述影像划分为多个规则格网，选用点特征提取算子提取所述规则格网内特征值最大的局部极值点作为特征像点。

8.如权利要求1所述的近景摄影测量方法，其特征在于，所述的根据预设条件匹配不同所述影像的特征像点为同名像点，包括：根据核线约束条件、灰度相似性条件、角度距离约束条件、梯度方向约束条件、双向一致性条件中的一种或多种匹配至少两幅所述影像的同名像点。

9.如权利要求4所述的近景摄影测量方法，其特征在于，所述的根据预设条件匹配不同所述影像的特征像点为同名像点，包括：根据核线约束条件及相关系数对所述影像序列逐级进行核线约束，确定所述同名像点。