[发明专利]壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质

说明书

本申请涉及一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质。所述方法包括：获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。上述方法中，可以根据采样点对应的截面轮廓确定采样点的测量区域，从而根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果，可以提高壳料的测量效率。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质。

背景技术

随着计算机技术的发展，窄边框成为现代电子设备的主流，在窄边框点胶工艺中，需要对粘胶面的宽度、粘胶面到LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)仓的高度等尺寸进行测量。然而，传统技术中，通过高度规对高度进行测量、采用二次元测量及切片测量对粘胶面宽度进行测量，存在测量效率低的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质，可以提高测量效率。

一种壳料测量方法，包括：

获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；

根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。

一种壳料测量装置，包括：

轨迹获取模块，用于获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

测试区域确定模块，用于确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；

结果确定模块，用于根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。

一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：

获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；

根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：

获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；

根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。

上述壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质，通过获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。由于可以根据采样点对应的截面轮廓确定采样点的测量区域，从而根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果，可以提高壳料的测量效率。

附图说明