[发明专利]一种MPO插回损测试工装

说明书

本发明公开了一种MPO插回损测试工装，包括测试仪连接块、前动块、主体和后动块，前动块右端与测试仪连接块左端转动连接，主体右端设定位凸块，定位凸块插入前动块左端面上对应的调整凹槽并可上下调整，后动块水平滑动式安装主体左端内孔中并可水平调整，限位挡块、MPO适配块和适配块固定件从左端放入后动块、主体、前动块和测试仪连接块的内孔中并定位，适配块固定件和后动块之间固定，适配块固定件、MPO适配块和限位挡块之间固定。本发明有益效果：可以对MPO产品竖向和水平调整，依次测量MPO各通道插回损，将突破现有设备瓶颈，提高设备使用率；针对不同MPO产品选用相应的MPO适配块，适应性非常强；成本较低，能批量使用。

技术领域

本发明涉及一种测试工装，特别是一种MPO插回损测试工装，属于光通信器件测试技术领域。

背景技术

插回损测试是光通信器件的重要工序。目前，本公司的单模插回损测试仪器仅有单通道光回波损耗测试仪，仅能测试LC、SC、FC等光纤连接器，无法测试MPO光纤连接器。

插回损测试的方法如图1所示，波长为1310nm的光从单模光回波测试仪1的OUTPUT端射出，经标准测试线2和适配器3的传递，射入被测部分4，光从被测部分4射出后，再经单模光回波测试仪1的INPUT端接收；部分光从被测部分4沿原路反射回单模光回波测试仪1的OUTPUT端。整个测试方法的测试原理如图2所示，经单模光回波测试仪1内部计算分别得出插入损耗与回波损耗，公式中，P₁为入射功率，P₂为输出功率，P_1'为反射功率。

单模光回波测试仪由于只有一个OUTPUT端而且接口固定，决定了一次只能测试一个通道。又由于INPUT端小于MPO光纤连接器，静置状态时个别通道在INPUT范围外，光无法被单模光回波测试仪接收，将无法进行测试。如果能够设计出一个可调工装，实现依次测量MPO各通道插回损，将突破现有设备瓶颈，提高设备使用率。另外，若采用市面上的多通道设备进行测试，则存在设备采购成本昂贵,企业经济负担较大的问题。

发明内容

本发明的发明目的在于：针对上述存在的问题，提供一种成本较低的MPO插回损测试工装，与单模光回波测试仪结合使用，可测试MPO多通道产品。

本发明采用的技术方案是这样的：

一种MPO插回损测试工装，包括测试仪连接块、限位挡块、MPO适配块、前动块、主体、后动块和适配块固定件，所述前动块右端与测试仪连接块左端转动连接，主体右端开设一上一下两个定位凸块，这两个定位凸块分别插入前动块左端面上对应的两个调整凹槽并可在前动块顶部的竖向调整机构带动下在调整凹槽内上下移动，所述后动块水平滑动式安装主体左端内孔中并可在主体侧部的水平调整机构带动下水平移动，所述限位挡块、MPO适配块和适配块固定件按先后顺序依次从左端放入后动块、主体、前动块和测试仪连接块的内孔中并在通过内孔阶梯面对限位挡块右端进行定位，所述适配块固定件和后动块之间通过螺栓固定连接以及所述适配块固定件、MPO适配块和限位挡块之间分别通过螺栓固定连接。

由于采用了上述技术方案，本发明具有的有益效果为：

1、可以方便地通过竖向调整机构和水平调整整机构实现对MPO产品的竖向和水平位置的调整，依次测量MPO各通道插回损，将突破现有设备瓶颈，提高设备使用率；

2、由于采用了MPO适配块，针对不同MPO产品选用相应的MPO适配块，适应性非常强；

3、结构简单，制造成本较低，企业完全能够实现批量使用而不会经济负担。