[发明专利]一种暗场显微大视场自动拼接成像方法有效
申请号: | 201810780945.8 | 申请日: | 2018-07-16 |
公开(公告)号: | CN109003228B | 公开(公告)日: | 2023-06-13 |
发明(设计)人: | 赵巨峰;叶晓杰;吴超;崔光茫;华玮平 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G06T3/40 | 分类号: | G06T3/40;H04N5/265 |
代理公司: | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人: | 吴秉中 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 暗场 显微 视场 自动 拼接 成像 方法 | ||
1.一种暗场显微大视场自动拼接成像方法,包括如下步骤:
步骤一、设计一个暗场显微成像装置,装置主要由光学显微镜,标准光源以及红外激光装置构成;
步骤二、在设计完成的成像装置上进行二次成像,所获的子孔径图像分别为Mi和Ni,i=1,2,3...n;
步骤三、针对于第二次成像,采用潜在目标检测分析的方法,找出潜在目标的位置并对其进行合理的拉伸操作;
步骤四、将两次成像后处理的图像进行加权融合;获得新的明暗凸显,背景均匀的子孔径图像Pi;
Pi(x,y)=(1-Hi(x,y))×Mi(x,y)+Hi(x,y)×Ni(x,y)
其中Pi代表最终所获得图像,Mi代表第一次所成的图像,其中每个点的权重为(1-Hi),Ni代表第二次所成的图像,其对应的的权值为Hi;
步骤五、将新获得的子孔径图像Pi进行直接拼接,i=1,2,3...n;
步骤四中,基于两次成像的各自优势,通过提取出第二次成像的目标来替换第一次成像中相应的区域,以得到明亮凸显,背景均匀子孔径图像Pi,保证最后的拼接图像能够得到背景均匀无缝的大视场图像。
2.如权利要求1所述的暗场显微大视场自动拼接成像方法,其特征在于:步骤二中,保持标准光源与光学显微镜一起移动,以保证对于每次成像所给定的光照一致。
3.如权利要求1所述的暗场显微大视场自动拼接成像方法,其特征在于:步骤二中,第一次成像给定其恒定光源,恒定的曝光时间以及光圈,获得背景均匀的子孔径图像Mi,以保证在拼接时能够保证子孔径图像均匀过渡;第二次成像设定自定义曝光时间,以获得明亮凸显的子孔径图像Ni。
4.如权利要求1所述的暗场显微大视场自动拼接成像方法,其特征在于:步骤三中,假设输入子孔径图像为Ο,对于其中任意像素(x,y),将其通过带通滤波器处理后的绝对值作为对应像素处为显著性值:
H(x,y)=|O(x,y)*G(r,σ1,σ2)|
G(r,σ1,σ2)=g(r,σ1)-g(r,σ2)
*即为卷积符号,其中H为最终所要得到的显著性图,g(r,σ)为高斯函数;
G(r,σ1,σ2)为带通函数,具有低截止频率flow,高截止频率fhigh,这里σ1>σ2;其中g(r,σ)为高斯函数,r2=x2+y2,σ是高斯函数的标准差;flow与fhigh分别由σ1与σ2决定;因此H也可以表示为
H(x,y)=|O(x,y)*g(r,σ1)-O(x,y)*g(r,σ2)|
显著性图H表征图像的潜在目标存在于不同像素与区域的分布权重,其灰度范围[0,1],值越大则越可能为目标区域,值越小则可能为背景区域。
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