[发明专利]用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法

权利要求书

1.一种铁电晶体相变检测方法，其特征在于，包括以下步骤：对铁电晶体施加外场后，采用用于铁电晶体相变检测的光学探针，探测施加外场后所述铁电晶体的光电信号；

所述用于铁电晶体相变检测的光学探针包括：外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体，所述激光器与所述铁电晶体光路连接，所述光电探测器与所述铁电晶体光路连接；所述外场控制器向所述铁电晶体施加外场；所述数据采集控制单元与所述外场控制器控制连接；

所述外场控制器向所述数据采集控制单元传输数据连接；所述光电探测器与所述数据采集控制单元传输数据连接；

所述数据采集控制单元控制启动外场控制器，对铁电晶体施加外场，通过数据采集控制单元调节所施加外场强度，数据采集控制单元实时记录外场数据和光电信息；

根据所述光电信号计算得到所述铁电晶体的相变，第i时刻光电信号值│V_i│-第i+1时刻光电信号值│V_i+1│＝光电信号变化值│△V│≥0.1*│V_i│时，认定所述铁电晶体发生相变，此时所施加外场为所述铁电晶体发生相变的外场值，该温度为所述铁电晶体的相变温度。

2.根据权利要求1所述的铁电晶体相变检测方法，其特征在于，所述激光器为脉冲激光器，所述脉冲激光器产生激光的脉冲频率为纳秒、皮秒或飞秒。

3.根据权利要求1所述的铁电晶体相变检测方法，其特征在于，所述激光器为高峰值功率为1064～1500nm的脉冲激光器。

4.根据权利要求1所述的铁电晶体相变检测方法，其特征在于，所述用于铁电晶体相变检测的光学探针还包括第一滤光片组，所述第一滤光片组设置于所述激光器与所述铁电晶体连接的光路上，且分别与所述激光器及所述铁电晶体光路连接。

5.根据权利要求1所述的铁电晶体相变检测方法，其特征在于，所述用于铁电晶体相变检测的光学探针还包括第二滤光片组，所述第二滤光片组设置于所述光电探测器与所述铁电晶体连接的光路上，且分别与所述光电探测器及所述铁电晶体光路连接。

6.根据权利要求4所述的铁电晶体相变检测方法，其特征在于，所述第一滤光片组包括至少一片第一光学窄带片，所述第一光学窄带片仅允许所述激光器所产生激光波长的激光通过。

7.根据权利要求5所述的铁电晶体相变检测方法，其特征在于，所述第二滤光片组包括至少一片第二光学窄带片，所述第二光学窄带片允许通过激光的波长为所述激光器产生激光波长的一半。

8.根据权利要求1所述的铁电晶体相变检测方法，其特征在于，所述用于铁电晶体相变检测的光学探针还包括样品室，所述铁电晶体置于所述样品室中，所述样品室分别与所述光电探测器和所述激光器光路连接。

9.根据权利要求8所述的铁电晶体相变检测方法，其特征在于，所述样品室与所述数据采集控制单元控制连接。