[发明专利]质量分析装置和质量分析方法

权利要求书

1.一种质量分析装置，其具有显示部，并且对含有测定物质的试样进行分析，分析在所述试样中有无存在所述测定物质，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置还具有：

存储部，其存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；

一致度计算部，其根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；

一致度显示控制部，其使所述显示部显示所述一致度；以及

重叠显示控制部，其使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示，

所述一致度计算部还对与所述理论峰相同的质荷比下的所述试样的质谱的强度进行合计，计算其强度合计值，

所述一致度显示控制部使所述显示部显示所述强度合计值，以可靠地判断所述理论峰与试样的质谱有无一致。

2.根据权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

所述一致度显示控制部对所述一致度和规定的第一阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在。

3.根据权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

所述一致度显示控制部对所述强度合计值和规定的第二阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在的可靠度。

4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的质量分析装置，其特征在于，

所述一致度计算部根据所述理论峰的规定宽度范围内的所述试样的所述质谱的强度的平均值来计算所述一致度。

5.根据权利要求1至3中的任意一项所述的质量分析装置，其特征在于，

所述重叠显示控制部以使所述理论峰中的最大峰的强度和所述试样的所述质谱中的与所述最大峰相同的质荷比下的强度一致的方式将所述理论峰和所述试样的所述质谱重叠显示于所述显示部。

6.根据权利要求1至3中的任意一项所述的质量分析装置，其特征在于，

所述一致度计算部使用相关系数来计算所述一致度。

7.一种质量分析方法，对含有测定物质的试样进行分析，分析在所述试样中有无存在所述测定物质，该质量分析方法的特征在于，所述质量分析方法还具有以下的步骤：

存储步骤，存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；

一致度计算步骤，根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；

一致度显示控制步骤，使显示部显示所述一致度；以及

重叠显示控制步骤，使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示，

在所述一致度计算步骤中还对与所述理论峰相同的质荷比下的所述试样的质谱的强度进行合计，计算其强度合计值，

在所述一致度显示控制步骤中使所述显示部显示所述强度合计值，以可靠地判断所述理论峰与试样的质谱有无一致。