[发明专利]灵敏度衰减测试方法及相关装置

说明书

本申请公开了一种灵敏度衰减测试方法及相关设备，包括：根据所述射频电路的印制电路板PCB文件提取第一频段对应的所述第一双工器到所述主集开关之间的第一走线和第二频段对应的所述第二双工器到所述主集开关之间的第二走线；在电磁EM仿真模块中，提取所述第一走线和所述第二走线的仿真参数集；在原理图仿真模块中，通过所述仿真参数集建立第一仿真模型，对所述第一仿真模型进行原理图仿真确定所述第一走线与所述第二走线之间的隔离度；根据所述隔离度计算出所述射频电路中发射信号对接收信号的接收灵敏度的干扰量。采用本申请实施例可提升接收灵敏度干扰量预估的准确性和灵活性。

技术领域

本申请涉及仿真技术领域，尤其涉及一种灵敏度衰减测试方法及相关装置。

背景技术

电子设备(如智能手机等)的第三代移动通信技术(3rd-Generation，3G)通信以及第四代移动通信技术(the 4th Generation，4G)通信主要分为频分双工(FrequencyDivision Duplexing，FDD)及时分双工(Time Division Duplexing，TDD)两种通信方式，其中FDD收发通路主要通过双工器实现收发同时工作互不干扰。

由于PCB板的尺寸有限，手机频段越来越多，很多相邻频段走线十分相近，一旦FDD频段发射信号与接收信号路径的隔离度不够，由于收发同时工作，发射信号就会对接收信号造成一定干扰。

发明内容

本申请实施例提供一种灵敏度衰减测试方法及相关设备，用于提升接收灵敏度干扰量预估的准确性和灵活性。

第一方面，本申请实施例提供一种灵敏度衰减测试方法，应用于测试设备，所述测试设备用于确定射频电路中发射信号对接收信号的接收灵敏度的干扰量，所述射频电路包括射频收发器、功率放大器PA、第一双工器、第二双工器、第一低噪声放大器LNA、第二LNA、主集开关和主集天线，所述射频收发器依次通过所述PA、所述第一双工器和/或所述第二双工器、所述主集开关和所述主集天线发射射频信号，所述射频收发器依次通过所述主集天线、所述主集开关、所述第一双工器和/或所述第二双工器、所述第一LNA和/或所述第二LNA接收射频信号，所述方法包括：

根据所述射频电路的印制电路板PCB文件提取第一频段对应的所述第一双工器到所述主集开关之间的第一走线和第二频段对应的所述第二双工器到所述主集开关之间的第二走线；

在电磁EM仿真模块中，提取所述第一走线和所述第二走线的仿真参数集；

在原理图仿真模块中，通过所述仿真参数集建立第一仿真模型，对所述第一仿真模型进行原理图仿真确定所述第一走线与所述第二走线之间的隔离度；

根据所述隔离度计算出所述射频电路中发射信号对接收信号的接收灵敏度的干扰量。

第二方面，本申请实施例提供一种灵敏度衰减测试装置，应用于测试设备，所述测试设备用于确定射频电路中发射信号对接收信号的接收灵敏度的干扰量，所述射频电路包括射频收发器、功率放大器PA、第一双工器、第二双工器、第一低噪声放大器LNA、第二LNA、主集开关和主集天线，所述射频收发器依次通过所述PA、所述第一双工器和/或所述第二双工器、所述主集开关和所述主集天线发射射频信号，所述射频收发器依次通过所述主集天线、所述主集开关、所述第一双工器和/或所述第二双工器、所述第一LNA和/或所述第二LNA接收射频信号，所述装置包括提取单元、仿真单元，以及计算单元，其中：

所述提取单元，用于根据所述射频电路的印制电路板PCB文件提取第一频段对应的所述第一双工器到所述主集开关之间的第一走线和第二频段对应的所述第二双工器到所述主集开关之间的第二走线；

所述仿真单元，用于在电磁EM仿真模块中，提取所述第一走线和所述第二走线的仿真参数集；以及用于在原理图仿真模块中，通过所述仿真参数集建立第一仿真模型，对所述第一仿真模型进行原理图仿真确定所述第一走线与所述第二走线之间的隔离度；