[发明专利]飞瓦非真空管检测器组装件有效
| 申请号： | 201810795816.6 | 申请日： | 2014-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN109752098B | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | K·莫汉;M·马丁内斯 | 申请（专利权）人： | 赛拉诺斯知识产权有限责任公司 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00;H01L31/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;姬利永 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 飞瓦非 真空管 检测器 组装 | ||
1.一种用于光学信号检测的装置，包括：
多个光电二极管；
模拟放大系统，其在每个所述光电二极管上包括高增益跨阻抗放大器TIA和缓冲器，随后是全差分放大器用以结合多个高增益跨阻抗放大器TIA的输出；
数字采集系统，其包括至少一个模数转换器ADC，随后是可编程处理器，该可编程处理器联接至中央处理器和板载存储器；
其中所述可编程处理器使用长时平均值来实现数据采集算法，并且
所述装置以飞瓦灵敏度检测信号。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括所述可编程处理器上的多个数模转换器DAC，用于提供反馈控制，其中一个数模转换器DAC用于在所述全差分放大器中进行偏移调节，而一个数模转换器DAC用以设置所述模数转换器ADC的参考电平。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括所述模拟放大系统的机械外壳模块。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括至少一个成形的反射器，用以将光引导到所述光电二极管中的至少一个。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述成形的反射器具有半球形状。
6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述成形的反射器包括至少一个开口，所述至少一个开口被尺寸设计并被定位成允许样品器皿被放置在腔中的期望位置处，所述腔至少部分地由所述成形的反射器限定。
7.一种用于光学信号检测的方法，所述方法使用根据权利要求1所述的装置。
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