[发明专利]提高速度谱精度的处理方法及系统

权利要求书

1.一种提高速度谱精度的处理方法，其特征在于，包括：

步骤1：设定时间阈值与时窗长度，根据所述时窗长度将原始道集划分多个时窗；

步骤2：针对第一个时窗，求取该时窗内的速度斜率；

步骤3：通过速度谱拾取所述时窗的上边界速度，根据所述时窗的上边界速度、速度斜率与采样点总数计算时窗内每个采样点的校正速度；

步骤4：根据所述时窗内每个采样点的校正速度对所述时窗内每个采样点进行动校正处理；

步骤5：针对下一个时窗重复步骤2-4，直至采样时间大于时间阈值；

其中，所述速度斜率为：

其中，K为速度斜率，x为偏移距，t₀为垂直入射旅行时，v为介质速度，dt为采样间隔，t_win为时窗长度。

2.根据权利要求1所述的提高速度谱精度的处理方法，其中，所述采样点总数为：

其中，n为时窗内的采样点总数，dt为采样间隔，t_win为时窗长度。

3.根据权利要求2所述的提高速度谱精度的处理方法，其中，所述校正速度为：

其中，v_i为时窗内第i个采样点的校正速度，v₀为时窗的上边界速度，K为速度斜率。

4.根据权利要求1所述的提高速度谱精度的处理方法，其中，通过公式(4)对所述时窗内每个采样点进行动校正处理：

其中，v_i为时窗内第i个采样点的校正速度，x为偏移距，t₀为垂直入射旅行时，△t为动校正量。

5.一种提高速度谱精度的处理系统，其特征在于，该系统包括：

存储器，存储有计算机可执行指令；

处理器，所述处理器运行所述存储器中的计算机可执行指令，执行以下步骤：

步骤1：设定时间阈值与时窗长度，根据所述时窗长度将原始道集划分多个时窗；

步骤2：针对第一个时窗，求取该时窗内的速度斜率；

步骤3：通过速度谱拾取所述时窗的上边界速度，根据所述时窗的上边界速度、速度斜率与采样点总数计算时窗内每个采样点的校正速度；

步骤4：根据所述时窗内每个采样点的校正速度对所述时窗内每个采样点进行动校正处理；

步骤5：针对下一个时窗重复步骤2-4，直至采样时间大于时间阈值；

其中，所述速度斜率为：

其中，K为速度斜率，x为偏移距，t₀为垂直入射旅行时，v为介质速度，dt为采样间隔，t_win为时窗长度。

6.根据权利要求5所述的提高速度谱精度的处理系统，其中，所述采样点总数为：

其中，n为时窗内的采样点总数，dt为采样间隔，t_win为时窗长度。

7.根据权利要求6所述的提高速度谱精度的处理系统，其中，所述校正速度为：

其中，v_i为时窗内第i个采样点的校正速度，v₀为时窗的上边界速度，K为速度斜率。

8.根据权利要求5所述的提高速度谱精度的处理系统，其中，通过公式(4)对所述时窗内每个采样点进行动校正处理：

其中，v_i为时窗内第i个采样点的校正速度，x为偏移距，t₀为垂直入射旅行时，△t为动校正量。