[发明专利]监测信号发生器上的被测设备波形

说明书

一种测试和测量仪器，其具有信号发生器电路和用于监测在被测设备（DUT）处接收到的波形的波形监测电路。信号发生器电路基于来自用户的输入生成波形，而波形监测电路将捕获的信号发送到处理器以确定在DUT处接收到的波形。波形监测器通过开关在第一测试点和第二测试点处捕获信号，并且处理器接收捕获的信号，并且使用线性方程确定入射波形和从DUT反射的波形两者。

技术领域

本公开涉及与信号发生器相关的系统和方法，更具体地，涉及用于在信号发生器上确定和显示来自信号发生器的在被测设备（DUT）处接收到的信号的系统和方法。

背景技术

任意波形和函数发生器（AFG）仪器广泛用于生成用于电子电路设计和测试的信号。AFG生成被DUT接收到的信号。通常，AFG仪器在其工作频率范围上的输出阻抗为50欧姆。当DUT负载阻抗与AFG仪器的输出阻抗不匹配时，在DUT处接收到的信号不等同于AFG仪器上的用户设置。在某些情况下，当DUT接收到与AFG仪器发送的信号不同的信号时，这可能会导致DUT受损。

本公开的示例解决了这些和其他问题。

附图说明

根据以下参照附图对实施例的描述，本公开的实施例的方面、特征和优点将变得显而易见，在附图中：

图1是连接到被测设备的信号发生器的框图。

图2是通过线缆连接到被测设备的信号发生器的框图。

图3是根据本公开的一些实施例的示例性测试和测量仪器的框图。

图4是使用图3的测试和测量仪器来确定DUT波形的示例性方法的流程图。

图5是在第一测试点处捕获的波形的示例。

图6是在第二测试点处捕获的波形的示例。

图7是基于图5和图6的波形所确定的波形A的示例。

图8是基于图5和图6的波形所确定的波形B的示例。

图9是基于图7和图8的波形所确定的DUT波形的示例。

图10是根据本公开的其他实施例的示例性测试和测量仪器的框图。

具体实施方式

本文公开了一种具有信号发生器电路和用于监测在被测设备处接收到的波形的波形监测电路的测试和测量仪器。信号发生器电路基于来自用户的输入生成波形，而波形监测电路将捕获的信号发送到处理器以确定在DUT处接收到的波形。波形监测器通过开关在第一测试点和第二测试点处捕获信号，并且处理器接收捕获的信号，并且使用线性方程确定入射波形和从DUT反射的波形。

图1是电耦合到DUT 102的信号发生器100的框图。DUT 102具有与信号发生器100的50欧姆的阻抗104匹配的50欧姆阻抗。在DUT 102处接收到的信号的真实幅度如等式（1）所示：

如果DUT的阻抗不等于50欧姆，则在DUT处接收到的真实振幅不等于信号发生器100上的用户设置。如果DUT 102负载包括大电容器和电感器，则在DUT 102处接收到的真实振幅可能甚至更复杂。

图2图示了具有50欧姆阻抗202的信号发生器200的框图，该阻抗202通过线缆206（例如Bayonet Neill-Concelman（BNC）线缆）附连到DUT 204。在图2中，线缆206引起反射，其导致在DUT 204处接收到的真实幅度与信号发生器200上的用户设置不同。

为了解决这个问题，典型的用户可以将示波器连接到DUT以及信号发生器。然后，用户看到在DUT接收到的信号的实际幅度，与在用户设置下设置的信号相对比。然后，用户可以基于用户在示波器上观察到的波形来调整信号发生器上的用户设置。然而，这样的解决方案是昂贵的，因为它需要两件设备，并且必须使用高阻抗探头。