[发明专利]一种传输线、散射参数测试系统及方法

说明书

本发明涉及一种传输线、散射参数测试系统及方法。该传输线包括用于传输射频信号的第一导电线路和第二导电线路，第一导电线路与第二导电线路之间设有连接线路，连接线路包括第一连接线路和第二连接线路，第一连接线路具有第一端和第二端，第一连接线路通过第一端与第一导电线路相连接，第一连接线路通过第二端与第二连接线路相连接，第二连接线路为与第二导电线路耦合连接的耦合线路；稳定性和一致性较好，能单独测试获得散射参数。本发明传输线的耦合线路可外接校准件，通过改变校准件的电气参数即可获得用于计算所需测试结果的散射参数，实现“去嵌入”测试，无需单独测量一致性较差的第一被测模块，测试过程简单方便，误差小。

技术领域

本发明涉及射频测试技术领域，尤其涉及一种传输线、应用该传输线的散射参数测试系统及方法。

背景技术

在射频测试中，常常需要进行散射参数测量。散射参数(scattering parameters)又称为S参数。在现有的散射参数测试中，常常会用到“去嵌入”测试技术，请参照图1所示，在第二被测模块300与矢量网络分析仪(用于测量散射参数的主要测试仪表，未示出)之间还包括第一被测模块200时，矢量网络分析仪从第一被测模块200测得的端口反射系数S₀实际上是第二被测模块300的散射参数B与第一被测模块200的散射参数A级联后的结果，为了准确获得第二被测模块300的散射参数B，就需要先测得第一被测模块200的散射参数A，再根据网络级联理论，计算出第二被测模块300的散射参数B。上述第一被测模块200可以是常见的测试夹具、射频器件、射频接头等。

然而，上述现有技术普遍应用的“去嵌入”测试技术在第一被测模块的散射参数无法测得的场合则无法适用，例如，当第一被测模块为表面贴装的滤波器、第二被测模块为天线单元，二者被焊接在同一个PCB上时，一方面滤波器无法拆卸后单独进行测试以获得其散射参数，另一方面，即便可以采用批量生产的同类滤波器来单独测试以获得散射参数，不同产品之间由于不具有理想的一致性，故用功能接近的滤波器测得的散射参数不能等价于已经焊接于天线单元上的滤波器的散射参数；而将滤波器先单独进行测试后再组装到天线单元的做法，虽然可以准确获得第二被测模块的散射参数，但在实际生产中将导致生产效率极低，是难以适应产业化生产需求的。

发明内容

基于此，为了解决上述技术问题，本发明提供了一种传输线、散射参数测试系统及方法，该传输线具有较好的稳定性和一致性，通过在测试电路中采用该传输线可实现“去嵌入”测试以获得散射参数，降低测试误差，同时还可避免只能将第一被测模块单独测试后再组装以获得散射参数的情况，从而显著提高生产效率。

本发明的传输线采用的技术方案是：

一种传输线，包括用于传输射频信号的第一导电线路和第二导电线路，所述第一导电线路与所述第二导电线路之间设有连接线路，所述连接线路包括第一连接线路和第二连接线路，所述第一连接线路具有第一端和第二端，所述第一连接线路通过所述第一端与所述第一导电线路相连接，所述第一连接线路通过所述第二端与所述第二连接线路相连接，所述第二连接线路为与所述第二导电线路耦合连接的耦合线路。

进一步的，所述传输线为微带传输线或带状传输线，所述传输线包括导体带和接地层；

其中，所述导体带和所述接地层分别对应作为所述第一导电线路和所述第二导电线路，所述第一连接线路为沿所述导体带朝所述接地层延伸的导体部件，所述耦合线路为设于所述导体部件远离所述导体带的一端的耦合部件，所述耦合部件与所述接地层之间设有耦合间隙；或者，所述导体带和所述接地层分别对应作为所述第二导电线路和所述第一导电线路，所述第一连接线路为沿所述接地层朝所述导体带延伸的导体部件，所述耦合线路为设于所述导体部件远离所述接地层的一端的耦合部件，所述耦合部件与所述导体带之间设有耦合间隙。

进一步的，所述导体部件为导电柱或导电通孔。

本发明的散射参数测试系统采用的技术方案是：