[发明专利]一种测试缺陷数据存储方法和装置

说明书

本发明公开了一种测试缺陷数据存储方法、装置、电子设备和计算机存储介质。该方法包括：接收用于提出测试请求的提测单；建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；获取与提测单对应的测试获得的缺陷数据；根据映射关系，将获取的缺陷数据存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。通过本技术方案，建立了提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系，测试人员可以根据自己的需求提交测试单，然后测试得到的缺陷数据自动存储到缺陷存储系统，不需要按照缺陷存储系统的目录层级，也可以实现缺陷数据的存储，提高了存储效率，使得缺陷数据的存储更加人性化，增强用户的使用体验。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种测试缺陷数据存储方法、装置、电子设备和计算机存储介质。

背景技术

一个应用开发新版本或者增加新功能时，在该新版本应用或新功能发布前，需要进行测试，以便使开发人员得知该新版本应用或新功能的运行状态。在测试时，会得到一些缺陷数据，为了开发人员调用或分析这些缺陷数据，一般会将测试时得到的缺陷数据进行存储，例如，存储至专门的缺陷存储系统。但是专门的缺陷存储系统有自身的目录层级，在进行缺陷存储时，需要按照缺陷存储系统的目录层级进行存储，一旦缺陷数据的业务层级不符合，则无法存储，例如，缺陷数据对应的业务层级可能是三级，而缺陷存储系统的目录层级是二级，这就使得缺陷数据的存储不是很友好，存储效率低下。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的测试缺陷数据存储方法、装置、电子设备和计算机存储介质。

根据本发明的一个方面，提供了一种测试缺陷数据存储方法，其中，该方法包括：

接收用于提出测试请求的提测单；

建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；

获取与所述提测单对应的测试获得的缺陷数据；

根据所述映射关系，将获取的缺陷数据存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

可选地，该方法进一步包括：

创建映射关系表；

将建立的所述提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至所述映射关系表中；

当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询所述映射关系表，确定与所述指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；

从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取所述指定提测单对应的缺陷数据。

可选地，该方法进一步包括：

根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

可选地，所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：

获取所述提测单对应的业务层级；

根据获取的业务层级，建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

可选地，所述获取所述提测单对应的业务层级包括：

直接从所述提测单中获取对应的业务层级；

或者，

提供业务层级输入接口，通过所述接口接收所述提测单对应的业务层级；

或者，

在接收到所述提测单时，从指定数据库中获取与所述提测单对应的业务层级；其中，所述指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。