[发明专利]一种数据隔离存储再现设备及方法在审
申请号: | 201810803335.5 | 申请日: | 2018-07-20 |
公开(公告)号: | CN109032865A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 程学彬;薛志刚;黄堉 | 申请(专利权)人: | 北京遥感设备研究所 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 王丰潮 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数字接口模块 模数转换模块 人机接口模块 数模转换模块 主控芯片模块 存储芯片 数据隔离 通讯模块 再现设备 上位机 存储 测试设备 人工成本 数据存储 数据记录 数据再现 写入数据 再现模块 研发 节约 | ||
本发明公开了一种数据隔离存储再现设备及方法,本发明设备包括:存储芯片模块(1)、主控芯片模块(2)、通讯模块(3)、模数转换模块(4)、数模转换模块(5)、数字接口模块A(6)、数字接口模块B(7)、人机接口模块(8)和上位机(9),其中,存储芯片模块(1)、主控芯片模块(2)、通讯模块(3)、模数转换模块(4)、数模转换模块(5)、数字接口模块A(6)、数字接口模块B(7)、人机接口模块(8)共同构成数据存储再现模块(10),本发明方法依赖以上设备进行数据记录、数据再现及上位机(9)读取数据及写入数据。能够提高测试设备研发效率并且节约人工成本。
技术领域
本发明涉及一种数据存储再现设备及方法,特别是一种数据隔离存储再现设备及方法。
背景技术
目前,现有的测试设备都是基于数据采集卡,将采集的数据保存到计算机,然后通过调取保存的数据实现数据复现,无法完整复现被测产品信号。对于部分测试设备体积较大不便移动或者被测产品不便移动的情况,只能进行现场联调,这样使得人工成本较高同时使得研发效率过低,同时在研制初期,可靠性和安全性较低,很容易导致被测产品或者数据采集卡损坏。
发明内容
本发明目的在于提供一种数据隔离存储再现设备及方法,解决现有测试设备与被测产品无法对接调试的问题。
一种数据隔离存储再现设备,包括:上位机,还包括:储存芯片模块、主控芯片模块、通讯模块、模数转换模块、数模转换模块、数字接口模块A、数字接口模块B、人机接口模块。
其中,存储芯片模块、主控芯片模块、通讯模块、模数转换模块、数模转换模块、数字接口模块A、数字接口模块B、人机接口模块共同构成数据存储再现模块。存储芯片模块、通讯模块、人机接口模块均与主控芯片模块双向连接,模数转换模块、数字接口模块A的输出端均与主控芯片模块连接,数模转换模块、数字接口模块B的输入端均与主控芯片模块连接。模数转换模块、数模转换模块、数字接口模块A、数字接口模块B均具有隔离功能。
优选的,其中模数转换模块、数模转换模块参数与整个设备的供电电压可调。
优选的,其中通过人机接口模块或者通过上位机操作,能够对存储芯片模块内存储空间进行监视及管理。
一种数据隔离存储再现方法的具体过程为:
数据记录模式:将被测产品与原有的测试设备进行接通,被测产品的模拟信号由模数转换模块进行采集,被测产品的数字信号由数字接口模块A进行采集。通过原有测试设备对被测产品进行操作,主控芯片模块将模数转换模块与数字接口模块A的缓存数据,通过接口写入到存储芯片模块,实现数据记录。
数据再现模式:将数模转换模块与新研测试设备的模拟接口连接,将数字接口模块B与新研测试设备的数字接口连接,通过人机接口进行操作数据再现。主控芯片模块通过接口读取存储芯片模块中的数据,并且按照顺序通过数模转换模块与数字接口模块B输出到新研测试设备中,实现数据再现。
上位机读取数据及写入数据模式:连接上位机与通讯模块,通过上位机控制,中控芯片模块通过接口读取存储芯片模块内数据,再通过通讯模块上传到上位机,实现上位机读取数据存储再现模块中已经存储的数据。通过上位机控制,上位机通过通讯模块将数据按照格式写入主控芯片模块,主控芯片模块通过接口将上位机写入的数据存储在存储芯片模块,实现上位机对数据存储再现模块写入数据。
本发明基于通用硬件,对原始测试数据进行记录及重现,解决现有测试设备与被测产品无法对接时的调试问题,通过采用隔离与数模模数转换等方式记录以及再现数据,并且可以通过外部读取已记录的数据进行备份及传输,提高测试设备研发效率并且节约人工成本。
附图说明
图1一种数据隔离存储再现设备的结构图;
图2一种数据隔离存储再现设备的数据记录模式的连接图;
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