[发明专利]开发调试处理方法及系统

权利要求书

1.一种开发调试处理方法，用于对待调试目标对象进行按电源键调试，其特征在于，所述待调试目标对象包括一用于表示所述待调试目标对象是否支持长按电源键功能的属性标识；所述开发调试处理方法包括下述步骤：

获取所述待调试目标对象的所述属性标识；

根据所述属性标识识别所述待调试目标对象是否支持长按电源键功能；

若所述待调试目标对象不支持长按电源键功能，对所述待调试目标对象进行短按电源键待机状态调试；

其中，所述长按电源键功能为长按电源键进入关机状态的功能。

2.根据权利要求1所述的开发调试处理方法，其特征在于，还包括：

若所述待调试目标对象支持长按电源键功能，对所述待调试目标对象进行长按电源键关机状态调试。

3.根据权利要求1所述的开发调试处理方法，其特征在于，获取所述待调试目标对象的所述属性标识之前，还包括：

判断所述待调试目标对象是否支持挂起到内存状态，当所述待调试目标对象支持挂起到内存状态时，获取所述待调试目标对象的所述属性标识。

4.根据权利要求1所述的开发调试处理方法，其特征在于，获取所述待调试目标对象的所述属性标识之前，还包括：

触发所述待调试目标对象的短按电源键操作，判断所述待调试目标对象的显示屏是否亮屏，若是，获取所述待调试目标对象的所述属性标识。

5.根据权利要求4所述的开发调试处理方法，其特征在于，当待调试目标对象的显示屏未亮时，触发唤醒所述待调试目标对象的调试。

6.一种开发调试处理系统，用于对待调试目标对象进行按电源键调试，其特征在于，所述待调试目标对象包括一用于表示所述待调试目标对象是否支持长按电源键功能的属性标识；所述开发调试处理系统包括：

获取单元，用于获取所述待调试目标对象的所述属性标识；

识别单元，用于根据所述属性标识识别所述待调试目标对象是否支持长按电源键功能；

调试单元，当所述待调试目标对象不支持长按电源键功能时，所述调试单元用于对所述待调试目标对象进行短按电源键待机状态调试。

7.根据权利要求6所述的开发调试处理系统，其特征在于，当所述待调试目标对象支持长按电源键功能时，所述调试单元还用以对所述待调试目标对象进行长按电源键关机状态调试。

8.根据权利要求6所述的开发调试处理系统，其特征在于，还包括：

判断单元，用以判断所述待调试目标对象是否支持挂起到内存状态，当所述待调试目标对象支持挂起到内存状态时，所述获取单元用于获取所述待调试目标对象的所述属性标识。

9.根据权利要求6所述的开发调试处理系统，其特征在于，还包括：

控制单元，用于触发所述待调试目标对象的短按电源键操作，以判断所述待调试目标对象的显示屏是否亮屏，若是控制所述获取单元获取所述待调试目标对象的所述属性标识。

10.根据权利要求9所述的开发调试处理系统，其特征在于，当待调试目标对象的显示屏未亮时，所述控制单元触发所述调试单元进行唤醒所述待调试目标对象的调试。