[发明专利]一种快速检测闪存瑕疵的方法在审
| 申请号： | 201810806210.8 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109036494A | 公开（公告）日： | 2018-12-18 |
| 发明（设计）人： | 蔡定国;李庭育;黄中柱;许豪江 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 闪存 资料暂存器 缓冲区 读取测试 检测 测试资料 快速检测 比对 瑕疵 写入 取出 输出 | ||
【权利要求书】：
1.一种快速检测闪存瑕疵的方法,包括暂存器内部的资料写入与寄存器的缓冲区域内的数据读取，其特征在于：所述暂存器上设块组，每个块又分成多个页，每个页会有多个列组合而成，所述暂存器上还设有缓冲区域。
2.根据权利要求1所述的一种快速检测闪存瑕疵的方法,其特征在于：所闪存芯片上包括资料资料暂存器。
3.根据权利要求1所述的一种快速检测闪存瑕疵的方法,其特征在于：包括以下步骤：
A、将全字节为0x55的测试资料写入闪存的资料暂存器；
B、从资料暂存器读取测试资料到缓冲区1；
C、将全字节为0xAA的测试资料写入闪存的资料暂存器；
D、从资料暂存器读取测试资料到缓冲区2；
E、取出缓冲区1与0x55进行比特比对，是否有某位比特错误；
F、有错误表示该位置的输入输出有问题；
G、取出缓冲区2与0xAA进行比特比对，是否有某位比特错误；
H、有错误表示该位置的输入输出有问题；
I、设定一组时间阈值。
4.根据权利要求1所述的一种快速检测闪存瑕疵的方法,其特征在于：包括以下步骤：
A、以块0为起始点，逐次往下一个块；
B、向页0发出读取命令；
C、取得读取反应时间，如果超过时间阈值，表示就绪忙碌引脚信号不良；
D、测试块是否小于区域数，测试块小于区域数的时候，选择大于0的数据，返回步骤A重新开始读取，当测试块大于区域数；
E、直接输出测试结果。
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