[发明专利]一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法在审
| 申请号： | 201810806234.3 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109065095A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 蔡定国;李庭育;庄健民;齐元辅 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/44 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 软件程序模块 测试资料 控制芯片 闪存芯片 电性 闪存 侦测 写入 工作效率高 信号连接 坏块表 块擦除 比对 擦除 坏块 页数 出错 | ||
【权利要求书】：
1.一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法，其特征在于：包括控制芯片（1）、软件程序模块（2）和闪存芯片（3），所述控制芯片（1）分别信号连接软件程序模块（2）和闪存芯片（3）。
2.根据权利要求1所述的一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法，其特征在于：所述闪存芯片（3）有1024个块，每个块有256个页，每个页有32个扇形组合而成。
3.根据权利要求1所述的一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法，其特征在于：包括以下步骤：
A、将测试资料写到所有块的第一页；
B、将所有块进行擦除；
C、将测试资料写到所有块的所有页；
D、对所有块的所有页内的资料进行比对；
E、比对错误，无法修复的判断为坏块或坏页。
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