[发明专利]一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法在审
| 申请号： | 201810806235.8 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109144769A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 陈育鸣;李庭育;洪振洲;魏智汎 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 校验 内存储存 内存控制 随机内存 物理层 读取单元 控制模块 冗余储存 写入单元 用户数据 主控芯片 纠错码 校验位 读取 储存空间 传统使用 校验运算 汉明码 位数据 内嵌 读出 外部 | ||
【权利要求书】：
1.一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，包括主控芯片（1），其特征在于：所述主控芯片（1）内设有内存储存控制模块（2）和内存控制物理层（3），所述内存储存控制模块（2）内设有写入单元（4）和读取单元（5），所述写入单元（4）和读取单元（5）分别连接内存控制物理层（3），所述内存控制物理层（3）连接多个内存储存组件；多个内存储存组件包括第一内存储存组件（6）、第二内存储存组件（7）、第三内存储存组件（8）、第N内存储存组件，N为大于3的整数。
2.根据权利要求1所述的一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，其特征在于：还包括检验位产生单元（9）和校验检查单元（10），所述检验位产生单元（9）和校验检查单元（10）均设置在内存储存控制模块（2）中，所述检验位产生单元（9）连接写入单元（4）；所述校验检查单元（10）连接读取单元（5）。
3.根据权利要求1所述的一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，其特征在于：包括以下步骤：
A、首先对数据数据做运算产生校验用的校验位, 以跟随或配置到另一区块的方式将校验位与数据同时存进外部随机内存空间；
B、读取时, 同时读出用户数据与校验位数据, 于校验模块内进行用户数据校验运算。
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