[发明专利]一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法在审
| 申请号： | 201810806778.X | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109189603A | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 陈育鸣;李庭育;洪振洲;魏智汎 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 随机内存 校验位 校验 动态随机存取存储器 数据保护 异或运算 主控 纠错 逻辑设计 代数算法 空间需求 内存空间 内存组件 数据纠错 数据数据 块数据 物理层 读出 写入 储存 配置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤一：主控内部的随机内存控制单元，不配置额外的校验位储存用内存组件，而将校验位一同内嵌或编排储存至普通数据用内存组件的储存空间；
步骤二：随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存；
步骤三：主控内部的随机内存控制单元在内存控制物理层通过对数据数据做异或运算产生校验用的校验位；
步骤四：随机内存控制单元所控制并从随机内存中读出资料，读取时，同时读出用户数据与校验位数据，于校验模块内进行用户数据校验运算。
2.根据权利要求1所述的一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，其特征在于：所述步骤一中的主控内部包括内存控制单元及内存控制物理层。
3.根据权利要求2所述的一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，其特征在于：所述内存控制单元内部设置有写入单元和读取单元，所述写入单元产生数据传输至内存控制物理层内，再由读取单元从内存控制物理层内读出资料。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏华存电子科技有限公司，未经江苏华存电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810806778.X/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
