[发明专利]彩色图像测膜厚法

说明书

本发明公开了一种彩色图像测膜厚法，包括准备工序和操作工序。本发明的准备工序，依靠膜片的厚度和膜片的折射率的乘积的值与膜片在光照下显示颜色的关系，来建立膜片的厚度和膜片的折射率的乘积的值与顺时针夹角的关系，并使其形成相应的关系图，然后于操作工序中，通过摄影设备来获取测量膜片的彩色图像，并将其转换为相应的顺时针夹角，从而来根据准备工序中获得的关系图，来获得测量膜片的厚度和测量膜片的折射率的乘积的值，且由于测量膜片的折射率能简单获得，最终用户能获得测量膜片的厚度。

技术领域

本发明涉及膜厚测量领域，尤其是涉及一种彩色图像测膜厚法。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display)，即液晶显示器，目前被大量应用于各种行业中，如航天航空、海运、广告和医疗等。而LCD的工作效果的往往取决于LCD的具体结构的参数，如液晶的类型、ITO(Indium Tin Oxide的简称，即氧化铟锡)导电膜的折射率和厚度和PI(Polyimide的简称，即聚酰亚胺)定向膜的折射率和厚度等等。

由此，对于LCD中的ITO导电膜、PI定向膜等膜片的折射率、厚度测量一直是LCD制作中的一个重要部分，对于膜片的折射率可以通过分析膜片的材料简单获取，但是，对于LCD中各种膜片的厚度的侧量目前市面上通常是使用测厚仪实现，这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计，有利用超声波频率变化的超声波厚度计，有利用涡流原理的电涡流厚度计，还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。但上述测厚仪的制造成本高，检测操作复杂。

发明内容

本发明的目的在于提供一种在已知膜片的折射率下，操作简单，成本较低的彩色图像测膜厚法。

根据本发明的一个方面，提供了一种彩色图像测膜厚法，包括准备工序和操作工序：

所述准备工序包括以下步骤：

步骤a1，根据膜片的厚度和膜片的折射率的乘积的值与膜片在光照下显示颜色的关系，于Lab颜色模型中描绘相应的轨迹；

步骤b1，以Lab颜色模型的a轴为横轴和b轴为纵轴，建立平面坐标系，将所述轨迹S投影到平面坐标系中，获得投影轨迹；

步骤c1，将投影轨迹的上的各点与平面坐标系的原点的连线，所述各个连线与投影轨迹的0点切线形成对应的顺时针夹角；

步骤d1，根据膜片的厚度和膜片的折射率的乘积的值与顺时针夹角的关系，绘制关系图。

所述操作工序包括以下步骤：

步骤a2，获取测量膜片的折射率，并使用摄像设备对所述测量膜片进行拍摄，获取测量膜片的彩色图像；

步骤b2，将所述彩色图像中的颜色变换为RGB值；

步骤c2，将所述RGB值换算为对应的CIE Lab值，获得测量a值和测量b值；

步骤d2，根据所述测量a值和测量b值，于投影轨迹中找到对应点；

步骤e2，将所述点与平面坐标系的原点进行连线，得到射线，所述射线与投影轨迹的0点切线形成测量顺时针夹角；

步骤f2，将测量顺时针夹角代入到关系图中，获得对应的测量膜片的厚度和测量膜片的折射率的乘积的值；

步骤g2，将所述测量膜片的厚度和测量膜片的折射率的乘积的值除以测量膜片的折射率，获得测量膜片的厚度。