[发明专利]一种基于原位SEM的裂纹尖端张开角度测量方法在审

专利信息
申请号: 201810810268.X 申请日: 2018-07-23
公开(公告)号: CN108956668A 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 王晓钢;姜潮;黄生航 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: G01N23/22 分类号: G01N23/22;G01N23/2202;G01B15/00
代理公司: 长沙惟盛赟鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 43228 代理人: 姚亮梅
地址: 410082*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 角度测量 裂纹尖端 扫描电镜 试样表面 原位试验 装夹 张开 裂纹扩展增量 试验操作步骤 表面粗糙度 非接触测量 采集图像 测量裂纹 断裂试验 后期处理 疲劳载荷 试验条件 演化趋势 预制裂纹 机加工 趋势图 加载 成像 绘制 清晰 试验 观察
【权利要求书】:

1.一种基于原位SEM的裂纹尖端张开角度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1) 试样准备:对试样进行机加工,达到所需的几何尺寸及表面粗糙度;

(2) 装夹试样,扫描电镜成像:将试样装夹于原位试验机的试样台上,调整扫描电镜的倍率和对比度,直至可清晰观察到试样表面;

(3)设置试验条件开始试验:设定原位试验机的加载参数,采用拉-拉疲劳载荷预制裂纹;

(4)断裂试验和采集图像:预制裂纹完毕后,采用单向拉伸载荷进行断裂试验,与此同时,扫描电镜每隔一定的加载时间对裂纹尖端进行图像采集;

(5)计算CTOA值和测量裂纹长度a:试验完毕后,用扫描电镜依次测量图像中的裂纹长度a,并将图像依次输入到“CTOA计算方法”模型中计算对应的CTOA值;

(6)获得CTOA-Δa的演化趋势:将计算得到的CTOA和扫描电镜测得的裂纹扩展增量Δa绘制在同一个坐标系中,得到CTOA-Δa的趋势图。

2.如权利要求1所述的裂纹尖端张开角度测量方法,其特征在于,在步骤(1)中,将加工好的试样用1000#和2000#的砂纸打磨,随后将试样置于抛光机上进行抛光,依次使用直径3μm和0.5μm的金刚石抛光液,磨抛过后用超声波清洗机清洗试样,然后烘干。

3.如权利要求1所述的裂纹尖端张开角度测量方法,其特征在于,在步骤(2)中,将试样装夹在原位试验机的夹头上,将试样连同夹头整体置于扫描电镜真空箱中,使得试验过程处于扫描电镜的观察视场中,调整扫描电镜的焦距、对比度、像散,直至能在1000X下清晰观察到试样表面。

4. 如权利要求1所述的裂纹尖端张开角度测量方法,其特征在于,在步骤(5)中, 所述“CTOA计算方法”模型是基于Matlab语言编写的程序代码,通过对图像中的灰度值进行分析比较,求出两条裂纹线上若干个离散点的位置,对两条裂纹线上的点分别进行最小二乘拟合,两条拟合直线之间夹角的大小即为CTOA值。

5.如权利要求1所述的裂纹尖端张开角度测量方法,其特征在于,在步骤(7)中,得到裂纹稳定扩展过程中裂纹扩展量Δa与相应裂纹尖端张开角CTOA的关系。

6. 如权利要求5所述的裂纹尖端张开角度测量方法,其特征在于,在步骤(7)中, CTOA趋于稳定状态时的下限值即认为是裂纹尖端张开角的临界值CTOAC

7.如权利要求1所述的裂纹尖端张开角度测量方法,其特征在于,所述“CTOA计算方法”模型是调用Matlab中的im2bw函数。

8.如权利要求1所述的裂纹尖端张开角度测量方法,其特征在于,所述“CTOA计算方法”模型以设定的阈值将图像二值化,使得图像中的像素点只有两种灰度等级,灰度值大于阈值的像素点为1,灰度值小于阈值的像素点为0。

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