[发明专利]一种金属硅冶炼深度除杂的方法在审
申请号: | 201810810825.8 | 申请日: | 2018-07-23 |
公开(公告)号: | CN108946737A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 陈发楼 | 申请(专利权)人: | 云南省龙陵县龙山硅有限责任公司 |
主分类号: | C01B33/037 | 分类号: | C01B33/037 |
代理公司: | 昆明人从众知识产权代理有限公司 53204 | 代理人: | 李灵洁 |
地址: | 678399 云南省*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 深度除杂 脱铝剂 熔化 金属硅冶炼 氩气 造渣剂 冶炼 冶炼炉 传统金属 方便操作 能源损耗 冶炼金属 硅生产 金属硅 再利用 硅料 镁盐 钠盐 熔渣 酸洗 脱铝 碾压 去除 氧气 备用 冷却 能源 配合 改进 | ||
本发明公开了一种金属硅冶炼深度除杂的方法,包括以下步骤:S1、组合脱铝剂,将镁盐和钠盐按照一定比例混合成脱铝剂备用;S2、氩气熔化,将造渣剂与金属硅混合后碾压成球形硅料,投入冶炼炉中,在温度1700度‑1800度环境下熔化。本发明通过对冶炼深度除杂方法的改进,解决了传统金属硅生产冶炼中,耗费能源、工艺复杂和工序繁琐的问题,达到了可以在冶炼金属硅时,利用氧气进行铝和钙反应生成熔渣的同时,使用脱铝剂进行深化脱铝,再利用造渣剂和氩气的配合进行对硼的去除,并在冷却后进行酸洗,达到了钙、铝、硼等杂质的深度清除的目的,工艺简单,方便操作,降低了成本,降低了能源损耗,方便使用。
技术领域
本发明涉及冶炼深度除杂技术领域,尤其涉及一种金属硅冶炼深度除杂的方法。
背景技术
硅材料具有元素含量丰富、化学稳定性好、无环境污染等优点,又具有良好的半导体材料特性,是半导体工业中最重要且应用最广泛的元素半导体材料,是微电子工业和太阳能光伏工业的基础材料。多晶硅生产多年来一直以提高纯度、综合利用降低成本为宗旨,其纯度达11个“9”,以满足半导体级多晶硅的需要。
在传统的金属硅生产中,提高金属硅产品质量、扩大产品品种的主要是通过“清洁原料”(即采用清洁的矿产品和优质还原剂)、强化精炼或熔化重结晶后用酸去除杂质从而得到更高品级的硅。在这类提高产品质量扩大产品品种的技术手段中,“清洁原料”方式受制于高品级原材料资源有限且价格高,强化精炼方式不利于节能降耗,因此,开发新的精炼工艺或研究新的杂质去除手段,是提高金属硅产品质量、扩大产品品种的一种新趋势,为此,我们提出一种金属硅冶炼深度除杂的方法来解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种金属硅冶炼深度除杂的方法。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种金属硅冶炼深度除杂的方法,包括以下步骤:
S1、组合脱铝剂,将镁盐和钠盐按照一定比例混合成脱铝剂备用;
S2、氩气熔化,将造渣剂与金属硅混合后碾压成球形硅料,投入冶炼炉中,在温度1700度-1800度环境下熔化,在氩气的氛围下进行造渣处理,所述造渣剂为K20-MgC12-SiO2-CaO,所述金属硅为块状或粉状,其中硼的含量为8ppmw;
S3、吹氧精炼,保持冶炼炉内的温度保持在1600度-1700度,将充足的氧气通入硅水中;
S4、取样检测,将冶炼炉内的温度保持在1600度-1650度,待精练到一定程度时,取样分析铝含量和硼含量;
S5、深度除铝,硅水中的铝含量大于12%时,将准备好的脱铝剂的二分之一投入到冶炼炉内,并充分搅拌,搅拌5-10分钟后,将剩余的二分之一的脱铝剂再次投入到冶炼炉内,再次搅拌10-20分钟,整个过程需要在30分钟内完成;
S6、过滤除杂,将深度除铝和除硼后的硅水内的熔渣进行去除;
S7、硅料粉碎研磨,冷却后,将造渣处理后的硅料进行粉碎、研磨、筛选,得到硅粉;
S8、依次浸泡,将所得到的硅粉加入到盐酸和氢氟酸混合液中浸泡,且浸泡时间为4h-8h,浸泡完毕,再将硅粉加入到硝酸和双氧水的混合液中浸泡,浸泡时间为6h-12h;
S9、冲洗、抽滤,最后将硅粉加入到氢氟酸和有机胺的混合液中浸泡,且浸泡时间为19h-25h,然后进行冲洗、抽滤,得到冲洗干净的硅粉;
S10、喷雾干燥,将所得到的硅粉进行喷雾干燥,得到深度除杂的硅粉。
优选地,所述造渣剂与金属硅的质量比为0.05kg-0.5kg。
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