[发明专利]数据采集方法及系统在审

专利信息
申请号: 201810811298.2 申请日: 2018-07-23
公开(公告)号: CN109141333A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 张金 申请(专利权)人: 北京电子工程总体研究所
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 待测物体 测量参数 测量 标识信息 测量过程 三维模型 数据采集 数据采集过程 数据采集软件 数据采集系统 数据采集终端 数字测量设备 三维可视化 数据适配器 测量设备 测量数据 集成数字 物体测量 自动采集 模拟量 数字量 加载 直观 采集 检测 转化 应用
【说明书】:

发明公开了一种数据采集方法,应用于物体测量,包括:输入待测物体的标识信息,根据标识信息加载待测物体三维模型和测量参数约束;采集待测物体的测量参数得到测量值,将测量值由模拟量转化为数字量;测量值与待测物体的三维模型相比较,判断测量值是否满足测量参数约束。另外,本发明公开的数据采集系统包括数字测量设备、数据适配器、数据采集终端和数据采集软件。相比于现有技术,在数据采集过程中使用三维可视化引导技术,直观地指导测量过程,通过集成数字测量设备自动采集测量过程中的测量数据,提高检测效率。

技术领域

本发明涉及数据采集领域。更具体地,涉及一种应用于物体测量的数据采集方法及系统。

背景技术

在工业领域,传统的物体外形参数测量是通过文字说明的测量值清单、二维图纸相结合确定待测量值,完成测量后手工记录质量数据形成纸质报表文件。由于尺寸参数较多,关键测量信息淹没在模型中,测量过程不直观、效率低、受数据采集人员主观影响大,手工记录容易出错,并且无法实现在线质量管控和质量预测分析。数显卡尺等数字化测量设备以其读数直观、使用方便等特点正逐渐取代传统的目测设备,为物体的全数字化自动测量和数据管控提供了设备基础。

鉴于此,本发明提供一种应用于物体测量的数据采集方法及系统,在数据采集过程中使用三维可视化引导技术,直观地指导测量过程,通过集成数字测量设备自动采集测量过程中的测量数据,提高检测效率。

发明内容

为了缓解现有技术存在的不足,本发明的目的在于提供一种应用于物体测量的数据采集方法及系统。

第一方面,本发明公开了一种数据采集方法,应用于物体测量,包括:输入待测物体的标识信息,根据标识信息加载待测物体三维模型和测量参数约束;采集待测物体的测量参数得到测量值,将测量值由模拟量转化为数字量;测量值与待测物体的三维模型相比较,判断测量值是否满足测量参数约束。

可选地,判断测量值是否满足测量参数约束,包括:如果测量值不满足测量参数约束,计算测量值与测量参数约束之间的差异,在待测物体的三维模型上图示差异,输出差异信息及分析。

进一步地,在判断测量值是否满足测量参数约束后,还包括:切换到待测物体三维模型的下一测量参数,并加载测量参数约束。

进一步地,还包括:测量值按指定格式输出,上传至数据管理系统。

第二方面,本发明还公开了一种数据采集系统,用于实现本发明第一方面所公开的方法,包括数字测量设备、数据适配器、数据采集终端和数据采集软件;数字测量设备,采集待测物体的测量参数得到测量值,将测量值由模拟量转化为数字量;数据适配器,将测量值由数字化测量设备传输给数据采集终端;数据采集终端,在数据采集终端设置数据采集软件,输入待测物体的标识信息;数据采集软件,根据标识信息加载待测物体三维模型和测量参数约束,测量值与待测物体的三维模型相比较,判断测量值是否满足测量参数约束。

可选地,还包括:错误处理模块,如果测量值不满足测量参数约束,计算测量值与测量参数约束之间的差异,在待测物体的三维模型上图示差异,输出差异信息及分析。

进一步地,还包括:切换模块,切换到待测物体三维模型的下一测量参数,并加载测量参数约束。

进一步地,还包括:数据管理模块,测量值按指定格式输出,上传至数据管理系统。

本发明的有益效果如下:

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