[发明专利]触摸屏控制器、触摸屏系统及触摸屏控制器的操作方法在审
申请号: | 201810811610.8 | 申请日: | 2018-07-23 |
公开(公告)号: | CN109558027A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 李炅勋;崔炳* | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 张帆;张青 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触摸屏控制器 采样 触摸 样本 响应 触摸屏系统 电容性触摸 采样信号 输出控制 信号输出 模数转换器 采样保持 多个电容 数字信号 样本转换 共享 申请 | ||
本申请提供了一种触摸屏控制器、包括所述触摸屏控制器的触摸屏系统和触摸屏控制器的操作方法。该触摸屏控制器包括:第一采样保持(S/H)块,其被构造为响应于第一采样信号对多个电容性触摸输入进行采样和响应于第一输出控制信号输出采样的电容性触摸输入的样本;第二S/H块,其被构造为响应于第二采样信号对多个力触摸输入进行采样和响应于第二输出控制信号输出采样的力触摸输入的样本;以及模数转换器(ADC),其由第一S/H块和第二S/H块共享,并且被构造为将电容性触摸输入的样本和力触摸输入的样本转换为数字信号。
相关申请的交叉引用
本申请要求于2017年9月25日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2017-0123657的利益,该申请的公开以引用方式全文并入本文中。
技术领域
本发明构思涉及一种触摸屏控制器,并且更具体地说,涉及一种用于感测电容性触摸和力触摸的触摸屏控制器、包括所述触摸屏控制器的触摸屏系统和触摸屏控制器的操作方法。
背景技术
触摸屏系统检测包括感测电极的触摸屏面板上的对象的接近或接触,并基于检测提供触摸信息。触摸信息可包括触摸屏面板上的触摸的位置。传统触摸屏系统可提供不仅关于触摸的位置还关于触摸的力的信息作为触摸信息。因此,具有这样的触摸屏系统的电子装置可基于触摸的位置和力为用户的触摸提供各种响应。
由于触摸屏系统可提供各种触摸信息,因此需要对触摸屏面板感测的各种信号进行处理。传统触摸屏系统可包括用于将触摸屏面板感测的模拟信号转换成数字信号的模数转换器(ADC),其具有大面积。ADC的数量的增加还会增加用于实现触摸屏控制器的半导体芯片的大小和功耗。
发明内容
本发明构思提供了一种能够减小半导体芯片的大小和功耗的触摸屏控制器、包括所述触摸屏控制器的触摸屏系统以及触摸屏控制器的操作方法。
一些实施例提供了操作触摸屏控制器的方法,包括以下步骤:响应于第一采样信号,对来自触摸屏的多个电容性触摸输入进行采样,并且将电容性触摸输入的样本存储在第一采样保持(S/H)块中;响应于第一输出控制信号,将存储在第一S/H块中的电容性触摸输入的样本按次序提供至模数转换器(ADC);响应于第二采样信号,对来自触摸屏的多个力触摸输入进行采样,并且将力触摸输入的样本存储在第二S/H块中;以及响应于第二输出控制信号,将存储在第二S/H块中的力触摸输入的样本按次序提供至ADC。
在一些实施例中,一种触摸屏控制器包括:第一采样保持(S/H)块,其被构造为响应于第一采样信号对多个电容性触摸输入进行采样,和响应于第一输出控制信号输出所采样的电容性触摸输入的样本;第二S/H块,其被构造为响应于独立于第一采样信号的第二采样信号对多个力触摸输入进行采样,和响应于第二输出控制信号输出所采样的力触摸输入的样本;以及模数转换器(ADC),其由第一S/H块和第二S/H块共享,并且被构造为将电容性触摸输入的样本和力触摸输入的样本转换为数字信号。
在其它实施例中,一种触摸屏系统包括:触摸屏面板,其包括被构造为感测电容性触摸的多个电容性感测电极和被构造为感测力触摸的多个力感测电极;以及触摸屏控制器,其通过多个第一通道电连接至电容性感测电极和通过多个第二通道电连接至力感测电极。所述触摸屏控制器包括:第一采样保持(S/H)块,其被构造为响应于第一采样信号产生和存储通过第一通道接收到的多个电容性触摸输入的样本;第二S/H块,其被构造为响应于第二采样信号产生和存储通过第二通道接收到的多个力触摸输入的样本;模数转换器(ADC),其由第一S/H块和第二S/H块共享,并且被构造为将所存储的电容性触摸输入和力触摸输入的样本转换为数字信号;以及控制信号产生器,其被构造为产生第一采样信号和第二采样信号。
附图说明
将从下面结合附图的详细描述中更清楚地理解本发明构思的实施例,其中:
图1是根据本发明构思的一些实施例的触摸屏系统的框图;
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