[发明专利]一种大气密度探测数据的标校方法和设备

说明书

提供一种大气密度探测数据的标校方法和设备，所述标校方法包括：获取在卫星飞行过程中的不同时间点的大气密度实测值，利用预先确定的标校参数对获取的大气密度实测值进行修正，获得在不同时间点的大气密度修正值，其中，所述标校参数通过多个预定时间间隔内的平均大气密度反演值和所述多个预定时间间隔内的平均大气密度实测值而被确定。采用上述大气密度探测数据的标校方法和设备，可提高探测大气密度的准确性。

技术领域

本发明总体说来涉及空间物理技术领域，更具体地讲，涉及一种大气密度探测数据的标校方法和设备。

背景技术

目前，由于大气密度探测器(如，真空计)的体积小、质量轻、成本低，使得利用星载热层大气密度探测器来探测大气密度的方式成为探测热层的大气密度的重要手段。但是该大气密度探测器的相关测量参数通常在地面进行试验确定，在大气密度探测器搭载卫星上天后，其相关测量参数可能会发生偏移，也就是说，在搭载卫星上天后大气密度探测器的测量结果会存在一定的偏差，导致对大气密度的测量结果不够准确。

发明内容

本发明的示例性实施例的目的在于提供一种大气密度探测数据的标校方法和设备，以提高对大气密度的探测的准确性。

根据本发明示例性实施例的一方面，提供一种大气密度探测数据的标校方法，所述标校方法包括：获取在卫星飞行过程中的不同时间点的大气密度实测值，利用预先确定的标校参数对获取的大气密度实测值进行修正，获得在不同时间点的大气密度修正值，其中，所述标校参数通过多个预定时间间隔内的平均大气密度反演值和所述多个预定时间间隔内的平均大气密度实测值而被确定。

可选地，所述标校参数可用于指示大气密度反演值与大气密度实测值之间的偏差，其中，可通过对所述多个预定时间间隔内的平均大气密度反演值和所述多个预定时间间隔内的平均大气密度实测值进行拟合来获得所述标校参数。

可选地，所述标校方法可还包括：获得所述多个预定时间间隔中的每个预定时间间隔内的平均大气密度反演值，其中，任一预定时间间隔内的平均大气密度反演值可通过以下方式获得：确定在所述任一预定时间间隔内的卫星轨道衰变率；利用所述卫星轨道衰变率计算在所述任一预定时间间隔内的平均大气密度反演值。

可选地，确定在所述任一预定时间间隔内的卫星轨道衰变率的步骤可包括：基于所述任一预定时间间隔内的卫星轨道实测数据，获得卫星飞行轨道的第一轨道半长轴；基于所述任一预定时间间隔内的卫星轨道预报数据，获得卫星飞行轨道的第二轨道半长轴；根据第一轨道半长轴和第二轨道半长轴，计算在所述任一预定时间间隔内的卫星轨道衰变率。

可选地，卫星轨道实测数据可包括卫星与地心的实测距离和卫星实测速度，其中，可利用下面的公式来计算卫星飞行轨道的第一轨道半长轴：

其中，a′_t1为卫星飞行过程中的t₁时刻的第一轨道半长轴，r′_t1为t₁时刻的卫星与地心的实测距离，v′_t1为t₁时刻的卫星实测速度，μ为万有引力常数和地球质量的乘积，t₁时刻为所述任一预定时间间隔的结束时间点。

可选地，卫星轨道预报数据可包括卫星与地心的预报距离和卫星预报速度，其中，可利用下面的公式来计算卫星飞行轨道的第二轨道半长轴：

其中，a″_t1为卫星飞行过程中的t₁时刻的第二轨道半长轴，r″_t1为t₁时刻的卫星与地心的预报距离，v″_t1为t₁时刻的卫星预报速度，μ为万有引力常数和地球质量的乘积，t₁时刻为所述任一预定时间间隔的结束时间点。