[发明专利]一种同步相量采样误差的校正装置

权利要求书

1.一种同步相量采样误差的校正装置，其特征在于，包括基于SoPC的处理器系统及基于SoPC的可编程逻辑控制器，所述处理器系统的双CPU中分别对应设置有采样误差计算模块与采样误差平滑模块，所述可编程逻辑控制器中设置有采样模块及相量计算模块，所述采样误差计算模块用于根据所述采样模块采集的采样数据及相量计算模块计算的相量数据计算采样误差，所述采样误差平滑模块用于根据所述采样误差计算平滑补偿因子，根据所述平滑补偿因子调整所述采样模块的参数；所述相量数据包括电压相量数据和电流相量数据；

所述处理器系统与所述可编程逻辑控制器通过AXI互联系统连接；

所述采样误差平滑模块采用滑动方差最小的方法计算所述平滑补偿因子，且所述平滑补偿因子的计算过程为：

t₁时刻计算的误差为Δ1=p₁-p₀，平滑补偿因子L₁=F(Δ1)；

t₂时刻计算的误差为Δ2=p₂-p₁，平滑补偿因子L₂=F(（Δ1+Δ2）/2)；

t₃时刻计算的误差为Δ3=p₃-p₂，平滑补偿因子L₃=F(（Δ1+Δ2+Δ3）/3)；

若从t₄时刻开始进行滑动方差处理，t4时刻计算的误差为Δ4=p₄-p₃，平滑补偿因子L₄=F(（3×L₃-L₁+Δ4）/3)；以该方法可计算出t₅时刻的误差及平滑补偿因子，且t_n时刻计算的误差为Δn=p_n-p_n-1，对应的平滑补偿因子L_n=F(（3×L_n-1-L_n-3+Δn）/3)，该式中n大于等于4；

其中，F表示平滑补偿因子和误差的函数关系；p_n为t_n时刻相量计算模块计算的同步相量计算结果，n=0,1,2,……。

2.根据权利要求1所述的同步相量采样误差的校正装置，其特征在于，所述可编程逻辑控制器中还设置有滤波模块，所述滤波模块用于对所述采样模块采集的数据进行滤波。

3.根据权利要求2所述的同步相量采样误差的校正装置，其特征在于，所述滤波模块为FIR滤波模块。

4.根据权利要求1所述的同步相量采样误差的校正装置，其特征在于，所述相量计算模块为FFT相量计算模块。

5.根据权利要求2所述的同步相量采样误差的校正装置，其特征在于，所述采样模块、滤波模块、相量计算模块对应设置有不同的IP。