[发明专利]一种低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法

权利要求书

1.一种低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）将低碳贝氏体钢制成待测试样：在真空感应熔炼炉中冶炼钢坯，将钢坯锻造成厚度为 90mm 的方坯，并在加热炉中加热至 1200℃保温2h使合金元素成分均匀化，方坯开轧温度为 1150℃，经 3 道次轧制到 35mm,冷却至 930℃后经过 4 个道次轧制成厚度为 12mm 的热轧板，采用切割机床加工成12mm×12mm×100mm 的热处理试样，热处理后车削加工成圆柱形拉伸试样，尺寸为Φ10 mm×100 mm； 对试样进行预处理，将试样升温至 750℃，保温1800s，然后冷却至400℃保温180s，最后空冷至室温；

（2）通过拉伸实验将经过步骤（1）的试样拉断；

（3）拉断变形后，在距离断口不同距离处将待测试样做纳米压痕标记处理；

（4）利用 EBSD 背散射仪分别扫描标记处不同区域，得到残余奥氏体形貌和体积分数；

（5）利用 EPMA 电子探针检测标记处的 C、Mn 元素分布情况，EBSD 扫描数据和 EPMA电子探针检测数据进行叠加分析。

2.根据权利要求1所述的低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法，其特征在于，所述步骤（3）中分别在距离断口处2mm和4mm处将待测试样横截面做纳米压痕标记处理。

3.根据权利要求1或2所述的低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法，其特征在于，还包括对拉断的试样距离断口处 2mm和4mm处横截面做抛光处理的步骤，以便于进行纳米压痕标记处理。

4.根据权利要求1或2所述的低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法，其特征在于，选取5个点纳米压痕标记处理。