[发明专利]电子捕获检测器、检测单元及清洗方法、分析方法及装置在审

专利信息
申请号: 201810818485.3 申请日: 2018-07-24
公开(公告)号: CN109298120A 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 内山新士 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N30/70 分类号: G01N30/70
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电子捕获检测器 检测 试样气体 分析方法及装置 清洗 导入口 线源 清洗气体 放射线 集电极 噪声 放射
【说明书】:

本发明提供电子捕获检测器、检测单元及清洗方法、分析方法及装置。减少起因于检测单元的噪声。电子捕获检测器的检测单元的清洗方法具备向电子捕获检测器的检测单元导入清洗气体的工序,该电子捕获检测器的检测单元具备线源、试样气体导入口以及集电极,该线源用于放射放射线,该试样气体导入口用于导入试样气体。

技术领域

本发明涉及电子捕获检测器的检测单元的清洗方法、分析方法、电子捕获检测器的检测单元、电子捕获检测器以及分析装置。

背景技术

在气相色谱法中,使用电子捕获检测器(Electron Capture Detector:ECD)检测含有卤素等电负度高的原子的电子亲和性高的化合物。在电子捕获检测器的使用中,存在如下问题:起因于检测单元的变化的噪声的产生使取得的数据的精度降低。

作为成为噪声的产生的原因的检测单元的变化,可以举出试样气体对集电极的污染、检测单元内部的氧化等。在专利文献1中记载了一种电子捕获检测器,在该电子捕获检测器中,将集电极安装于自插入检测单元内的柱的轴线延长线偏离的位置,从而降低集电极的污染。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2011-128171号公报

发明内容

发明要解决的问题

另一方面,在已经在电子捕获检测器产生了噪声的情况下,有时通过加热来减少由集电极的污染导致的噪声。但是,对于由检测单元内部的氧化导致的噪声,除了目前进行的通过更换检测单元来应对以外,需要进一步的提案。

用于解决问题的方案

本发明的优选的技术方案的电子捕获检测器的检测单元的清洗方法具备向电子捕获检测器的检测单元导入清洗气体的工序,该电子捕获检测器的检测单元具备线源、试样气体导入口以及集电极,该线源用于放射放射线,该试样气体导入口用于导入试样气体。

在进一步优选的技术方案中,所述清洗气体是具有还原性的气体。

在进一步优选的技术方案中,所述清洗气体是氢气。

在进一步优选的技术方案中,将所述清洗气体导入被加热至500摄氏度以下的温度的所述检测单元。

在进一步优选的技术方案中,通过将所述清洗气体保持于所述检测单元内或将所述清洗气体连续不断地导入所述检测单元内,来防止所述检测单元的氧化。

本发明的优选的技术方案的分析方法利用具备电子捕获检测器的分析装置进行试样的分析,其中,所述电子捕获检测器具备检测单元,该检测单元具备线源、试样气体导入口、补充气体导入口以及集电极,该线源用于放射放射线,该试样气体导入口用于导入试样气体,该补充气体导入口用于导入补充气体,该分析方法具备以下工序:自所述试样气体导入口导入所述试样气体,自所述补充气体导入口导入所述补充气体,所述试样的成分接收由所述放射线产生的电子,对由此引起的含有所述集电极的电路的电响应的变化进行测量;以及在未进行所述测量时,利用上述的电子捕获检测器的检测单元的清洗方法清洗所述检测单元。

本发明的优选的技术方案的电子捕获检测器的检测单元具备线源、试样气体导入口、集电极以及清洗气体导入口,该线源用于放射放射线,该试样气体导入口用于导入试样气体,该清洗气体导入口用于导入清洗气体。

在进一步优选的技术方案中,所述检测单元具备用于导入补充气体的、与所述清洗气体导入口不同的补充气体导入口。

在进一步优选的技术方案中,所述检测单元具备用于对补充气体和所述清洗气体进行切换并导入所述清洗气体导入口的切换机构。

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