[发明专利]一种超声波测试支架在审
申请号: | 201810820239.1 | 申请日: | 2018-07-24 |
公开(公告)号: | CN108760894A | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | 邓华锋;王伟;张吟钗;潘登;支永艳;段玲玲 | 申请(专利权)人: | 三峡大学 |
主分类号: | G01N29/22 | 分类号: | G01N29/22;G01N29/07 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 成钢 |
地址: | 443002 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支架上表面 测试探头 支架 底座 超声波测试 环形挡板 腔体结构 弹簧 紧靠 开口 凹槽结构 测量过程 断面设置 人为因素 依次设置 中部位置 上表面 上端面 下端面 立柱 竖直 主尺 伸出 | ||
1.一种超声波测试支架,其特征在于:它包括底座(9),底座(9)一侧为竖直方向的断面,紧靠断面设置有主尺(2),紧靠主尺(2)一侧设有立柱(1),在底座(9)上设有支架(7),支架(7)内部为腔体结构,在腔体结构中从下至上依次设置有弹簧(8)、下测试探头(6),弹簧(8)的一端与底座(9)的上端面连接,另一端与下测试探头(6)的下端面连接,支架(7)上表面(21)开口(18),下测试探头(6)的上部伸出支架(7)上表面(21)的开口(18),支架(7)上表面(21)中部位置设有环形挡板(19),环形挡板上表面水平高度低于支架(7)上表面(21)的水平高度,环形挡板(19)与支架上表面(21)形成凹槽结构(14),在下测试探头(6)的上方对应的设置上测试探头(12);主尺(2)上接近上测试探头(12)的一侧设有副尺机构,副尺机构包括竖向设置的可滑动的副尺(3)、水平向设置且与副尺(3)连接的圆环(11),上测试探头(12)固定设置在圆环(11)中部的环体中。
2.根据权利要求1所述的一种超声波测试支架,其特征在于:在对岩样(13)测试时采用以下步骤:
1)在测试前设置好支架(7),将弹簧(8)设置在底座(9)中,将下测试探头(6)设置在支架(7)中并与弹簧(8)接触式连接,同时使下测试探头(6)的上端面伸出支架(7)上表面(21)的开口(18);
2)、将岩样(13)居中放置在支架(7)的凹槽结构(14)中,将上测试探头(12)夹在圆环(11)中,通过数据线(4)将上测试探头(12)、下测试探头(6)与测试仪连接;
3)根据主尺(2)与副尺(3)的读数,可得岩样(13)的长度,将测得的长度输入在超声波测试仪中,再点击超声波测试仪的采样按钮即可测得岩样(13)的超声波波速。
3.根据权利要求1或2所述的一种超声波测试支架,其特征在于:在副尺(3)上有限位螺钉(10)。
4.根据权利要求3所述的一种超声波测试支架,其特征在于:所述圆环(11)上有一固定螺栓(5),上测试探头(12)夹在圆环(11)中。
5.根据权利要求1所述的一种超声波测试支架,其特征在于:在上测试探头(12)与下测试探头(6)之间夹设有岩样(13)。
6.根据权利要求2或5所述的一种超声波测试支架,其特征在于:所述上测试探头(12)、岩样(13)和下测试探头(6)中心在一条轴线上。
7.根据权利要求4所述的一种超声波测试支架,其特征在于:在步骤2)中,将岩样(13)居中放置在支架(7)上表面(21)的凹槽结构(14)中,将上测试探头(12)夹在圆环(11)中,拧紧固定螺栓(5)固定,松开限位螺钉(10),向下滑动副尺(3)使岩样(13)卡在支架(7)的凹槽结构(14)中,再拧紧限位螺钉(10)。
8.根据权利要求1或2或7所述的一种超声波测试支架,其特征在于:所述支架(7)包括上表面(21)、上表面(21)中部设置的环形挡板(19)、环形挡板(19)中部开口(18),支架(7)的支柱(20)插设在底座(9)上的螺孔(15)中。
9.根据权利要求8所述的一种超声波测试支架,其特征在于:所述环形挡板(19)与主尺(2)的0刻度线在同一水平线上,上测试探头(12)的底面与副尺(3)的0刻度线在同一水平线上。
10.根据权利要求8或9所述的一种超声波测试支架,其特征在于:在步骤1)中,在测试前先将支架(7)的支柱(20)插设在底座(9)对应的螺孔(15)中,将弹簧(8)放置在底座(9)的卡槽16中,然后将下测试探头(6)放置在弹簧(8)上固定。
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