[发明专利]一种MCD的测试装置及其测试方法

说明书

本发明涉及LED测试技术领域，尤其涉及一种MCD的测试装置及其测试方法。其技术方案要点：包括开设有进光孔的底座和安装于所述底座上的分光镜座A和分光镜座B；分光镜座B开设有与进光孔连通的连通孔和设置于连通孔远离进光孔一端的波长测试孔，波长测试孔的中轴线与连通孔中轴线垂直；波长测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件；分光镜座A开设有与连通孔连通且中轴线与连通孔中轴线平行的光强测试孔；光强测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED光强的MCD测试组件；连通孔和光强测试孔交接处安装有与连通孔中心轴线成45°的半透半反镜，能够同时进行LED波长测试和光强测试，节省时间和人力成本。

技术领域

本发明涉及LED测试技术领域，尤其涉及一种MCD的测试装置及其测试方法。

背景技术

在LED的光参数测试中，其中波长和亮度是需要测试的两个关键参数，亮度方面有两种需要测试，MW（光功率）、MCD。“MCD”：光通量的空间密度，即单位立体角的光通量，叫发光强度，是衡量光源发光强弱的量。

目前，需要掌握LED的光参数，现有的测试方式大部分都是独立进行LED亮度的测试和独立进行LED波长的测试，使LED的光参数测试过程过于繁杂，浪费时间与人力资源。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的一在于提供一种MCD的测试装置，能够同时进行LED波长测试和光强测试，有利于节省时间成本和人力资源成本。

本发明的上述技术目的一是通过以下技术方案得以实现的：一种MCD的测试装置，其特征在于，包括开设有进光孔的底座和安装于所述底座上的分光镜座A和分光镜座B；分光镜座B开设有与进光孔连通的连通孔和设置于连通孔远离进光孔一端的波长测试孔，波长测试孔的中轴线与连通孔中轴线垂直；波长测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件；分光镜座A开设有与连通孔连通且中轴线与连通孔中轴线平行的光强测试孔；光强测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED光强的MCD测试组件；连通孔和光强测试孔交接处安装有与连通孔中心轴线成45°的半透半反镜。

通过采用上述技术方案，光源通过进光孔进入连通孔并照射到半透半反镜，光源到达半透半反镜后一半光源透射后进入光强测试孔，通过MCD测试组件测试光强；另一半光源经反射后进入波长测试孔，通过波长测试组件测试波长。实现了在测试LED的光强密度的同时能够测试LED的波长，节省了分别测试的步骤，使LED的光参数测试简便，提高了检测效率，而且有利于节约时间与人力资源成本，而且装置结构相对简单，成本低，便于推广。

本发明进一步设置为：所述分光镜座A和分光镜座B均包括相互抵接的抵接面和安装面，所述安装面内凹用于安装半透半反镜的安装面，所述安装面与连通孔中心轴线成45°，抵接面和安装面为锐角。

通过采用上述技术方案，安装面的倾斜角度及内凹设置有利于防止光线外漏，测试结果更准确，也更便于安装半透半反镜，操作简单，而且安装的稳固性也更好；抵接面和安装面为锐角，便于限制分光镜座A和分光镜座B沿安装面滑移，安装更加稳固。

本发明进一步设置为：所述抵接面和安装面为45°。

通过采用上述技术方案，实现了抵接面与底座与分光镜座A接触的平面垂直，更便于安装。

本发明进一步设置为：所述半透半反镜外围设有第二环型橡胶密封圈。

通过采用上述技术方案，密封性更好，光线不容易射出，测试结果更为准确，半透半反境安装的也更加稳固。

本发明进一步设置为：所述波长测试组件与所述分光镜座B之间设有衰减组件；所述衰减组件包括安装于所述波长测试组件与所述分光镜座B之间的遮光板、安装于所述分光镜座B接近所述透光槽的侧面上的光电开关；