[发明专利]一种双通道飞行时间质量分析器

说明书

本发明公开了一种双通道飞行时间质量分析器，包括双通道加速器、无场飞行区、双通道反射器、双检测器；所述双通道飞行时间质量分析器有两组并行分布的离子通道，其各组通道的中心轴均在同一平面上，两个通道并行分布，互不干扰。装置采用双通道设计，将现有技术中的加速区、飞行区和反射区结构合为一体，满足与不同离子源相对接的需求，实现飞行时间质量分析的同步性，进而实现同时获得两组分析数据，缩短了样品分析的成本和时间。

技术领域

本发明属于质谱分析仪器技术领域，具体涉及一种双通道飞行时间质量分析器。

背景技术

飞行时间质量分析器(time-of-flight-MS，TOF-MS)的原理在于，进入飞行区的离子在动能和电场作用下飞行，质荷比较小的离子飞行时间短，质荷比较大的离子飞行时间长，从而使不同质荷比的离子到达检测器的时间不同而被分离。现有的飞行时间质谱仪无法实现在一套设备中针对一次进样的物质针对不同的离子源，同时进行分析处理，为了与不同离子源相对接，实现飞行时间质量分析的同步性，需要一种可同步接收两束离子的飞行时间质量分析器。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种双通道飞行时间质量分析器，该装置采用双通道设计，将现有技术中的加速区、飞行区和反射区结构并排设置，满足与不同离子源相对接的需求，实现飞行时间质量分析的同步性，进而实现同时获得两组分析数据，缩短了样品分析的成本和时间。

本发明是通过以下技术方案实现的：

一种双通道飞行时间质量分析器，包括作为无场飞行区的真空腔体、双通道加速器、双通道反射器和检测器，在真空腔体一侧并排设置双通道加速器和2组检测器，在真空腔体另一侧设置双通道加速器，在在真空腔体形成供两组经电离的离子飞行的并行离子通道，两组经电离的离子分别经由加速器、无场飞行区、反射器、无场飞行区的抛物线飞行轨迹到达检测器。

在上述技术方案中，所述双通道加速器采用双孔并行结构，即在一整体极片上设置并排的通孔。

在上述技术方案中，所述双通道加速器由两片独立并行分布的单孔极片构成。

在上述技术方案中，所述双通道反射器采用双孔并行结构，即在一整体极片上设置并排的通孔。

在上述技术方案中，所述双通道反射器由两片独立并行分布的单孔极片构成。

在上述技术方案中，所述真空腔体内沿离子飞行方向设置隔板，将真空腔体分隔相互独立的腔体。

在上述技术方案中，所述双通道加速器包括离子调制区与加速区。

在上述技术方案中，在所述离子调制区和加速区之间设置第一栅网电极g1。

在上述技术方案中，所述双通道反射器仅包含一个反射区，及第一反射区b1。

在上述技术方案中，所述双通道反射器包含第一反射区b1和第二反射区b2。

在上述技术方案中，所述第一反射区b1和第二反射区b2之间设置第四栅网电极g4。

在上述技术方案中，所述检测器为双微通道板离子检测器。

在上述技术方案中，所述真空腔体与双通道加速器之间设置第二栅网电极g2，真空腔体与双通道反射器之间设置第三栅网电极g3，真空腔体与检测器之间设置第五栅网电极g5。

本发明的优点和有益效果为：