[发明专利]光线检测装置

说明书

本公开提供一种光线检测装置。光线检测装置的阵列基板包括第一扫描线、第一数据线、第一电子单元、第二电子单元、第三电子单元以及第一共用导线。第一扫描线沿第一方向延伸。第一数据线沿第二方向延伸，且与第一扫描线交错。第一电子单元电性连接第一扫描线及第一数据线。第二电子单元邻近第一电子单元且沿第一方向依序设置。第三电子单元邻近第一电子单元且沿第二方向依序设置。第一共用导线传送信号至第一电子单元，第二电子单元及第三电子单元。第一共用导线设置于第一电子单元和第二电子单元之间，或第一电子单元和第三电子单元之间。

技术领域

本公开是有关于一光线检测装置，特别是有关于光线检测装置中相邻的电子单元具有共用导线的光线检测装置技术。

背景技术

光线检测装置普遍应用于生活、办公室、学校或医疗上，随着科技进步，对光线检测装置的检测精确性(例如提高信号对噪声的比例关系)需求度不断增加，使光线检测装置需设置更多的晶体管(例如重置晶体管或放大晶体管)或更多条走线来提升检测精确性的需求，但设置此些晶体管或走线会占用到更多于阵列基板上的空间，使光线检测装置中的光电二极管(photodiode)的设置的空间相对被缩减，因而降低检测的灵敏度。故本公开提供一光线检测装置，有关于光线检测装置中的相邻的电子单元具有共用导线的光线检测装置，可以降低上述的光电二极管(photodiode)的空间相对被缩减的问题。

发明内容

根据本公开的一实施例提供一种光线检测装置。光线检测装置包括一阵列基板。阵列基板包括一第一扫描线、一第一数据线、一第一电子单元、一第二电子单元、一第三电子单元以及一第一共用导线。第一扫描线沿一第一方向延伸。第一数据线沿一第二方向延伸，且该第一数据线与该第一扫描线交错。第一电子单元电性连接该第一扫描线及该第一数据线。第二电子单元邻近该第一电子单元且沿该第一方向依序设置。第三电子单元邻近该第一电子单元且沿该第二方向依序设置。第一共用导线传送一信号至该第一电子单元，该第二电子单元及该第三电子单元。该第一共用导线，设置于该第一电子单元与该第二电子单元之间，或设置于该第一电子单元与该第三电子单元之间。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1是根据本公开的一实施例的光线检测装置1的示意图。

图2是根据本公开的一实施例的光线检测装置1的两相邻电子单元的上视图。

图3是根据本公开的图2的实施例的光线检测装置1的两相邻电子单元于切线A-A’的剖面结构图。

图4A是根据本公开的一实施例的光线检测装置4的示意图。

图4B是根据本公开的另一实施例的光线检测装置4的示意图。

图5是根据本公开的一实施例的光线检测装置4的两相邻电子单元的上视图。

图6A是根据本公开的图5的实施例的光线检测装置4的两相邻电子单元于切线B-B’的剖面结构图。

图6B是根据本公开的图5的实施例的光线检测装置4的两相邻电子单元于切线C-C’的剖面结构图。

图7A是根据本公开的一实施例的光线检测装置7的示意图。

图7B是根据本公开的另一实施例的光线检测装置7的示意图。

图8是根据本公开的一实施例的光线检测装置7的两相邻电子单元的上视图。

图9A是根据本公开的图8的实施例的光线检测装置7的两相邻电子单元于切线E-E’的剖面结构图。

图9B是根据本公开的图8的实施例的光线检测装置7的两相邻电子单元于切线D-D’的剖面结构图。

符号说明：