[发明专利]测试灯箱的遮光机构在审
申请号: | 201810827821.0 | 申请日: | 2018-07-25 |
公开(公告)号: | CN108826225A | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 鲁周波 | 申请(专利权)人: | 苏州市琳珂照明科技有限公司 |
主分类号: | F21V1/00 | 分类号: | F21V1/00;F21V1/16;F21V14/08 |
代理公司: | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 邢若兰;高之波 |
地址: | 215000 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试灯箱 遮光机构 遮光布 透光区 驱动装置 检测 驱动 检测结果 遮光区 灯箱 漏光 内置 | ||
本发明公开了测试灯箱的遮光机构,主要包括遮光布和驱动装置,遮光布上设置有遮光区和一种以上的透光区,驱动装置用于驱动遮光布运动,实现透光区的切换。本发明公开的测试灯箱的遮光机构,在使用此种测试灯箱检测不同型号的产品时,由遮光机构驱动灯箱内置的遮光布,实现不同的透光区之间的切换,由此达到在同一测试灯箱上检测多种型号的产品的目的,本发明结构简单,易于操作,并且能够有效降低检测过程中漏光的可能性,提高检测结果的准确性。
技术领域
本发明涉及测试设备领域,特别涉及一种测试灯箱的遮光机构。
背景技术
随着经济的发展和人民生活水平的提高,各类液晶应用产品在国民经济生产和人们社会生活中扮演的角色也越来越重要,液晶应用产品日趋多元化及普及化,在液晶面板的生产过程中,为了提高产品的通用性及性价比,需要对液晶面板的光学特性进行检测,在检测时,通常使用发光的灯箱代替液晶显示中的背光模组。由于目前液晶面板尺寸越来越多,在实际生产中,常常需要一种测试设备对多种液晶面板型号进行测试。
在大尺寸的测试设备测试小尺寸的液晶面板时,测试灯箱中对光学检测仪器有干扰的部分发光区需要进行遮挡,目前实际生产中一般使用由遮光布、滑轨和丝杆组成的遮光机构进行遮挡,此种方式从三个方向对灯箱进行遮挡,但是此种遮光方式易发生漏光,影响测试结果,并且遮光机构结构复杂,操作较麻烦。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测试灯箱的遮光机构,可以解决上述现有技术的技术问题。
根据本发明的一个方面,提供了一种测试灯箱的遮光机构,包括驱动装置和遮光布,遮光布上设置有遮光区和一种以上的透光区,驱动装置用于驱动遮光布运动,实现透光区的切换。
本发明的遮光区是指遮光布上的部分区域为光线无法通过的区域,可以有效防止漏光,透光区是指光线可以通过并进行测试的区域,一种透光区对应一种需要测试产品的型号大小。
其有益效果是:由于遮光布上设置有遮光区和一种以上的透光区,通过驱动装置驱动遮光布运动,实现透光区的切换,本发明结构简单,操作方便,遮光区域完整,避免了多方向共同遮光的情况,降低了测试过程中发生漏光的可能性,提高了测试精度,同时满足一个测试灯箱可测试多种不同型号产品的实际生产需求。
在一些实施方式中,驱动装置包括第一滚轴、第二滚轴、第一电机和第二电机,测试灯箱中设置光源单元,第一滚轴固定在光源单元一侧,第二滚轴固定在光源单元另一侧,第一滚轴和第二滚轴平行设置,遮光布卷绕在第一滚轴和第二滚轴上,第一电机与第一滚轴相连接,第二电机与第二滚轴相连接。由于遮光布卷绕在第一滚轴和第二滚轴上,第一电机与第二电机带动两滚轴同速同向运动时,遮光布也随之运动,使透光区发生改变,实现在同一测试灯箱上测量多种型号产品的目的,且遮光机构结构简单,操作方便,不易漏光。
在一些实施方式中,驱动装置包括第三滚轴、第四滚轴和第三电机,测试灯箱中设置光源单元,光源单元悬空固定在灯箱内部,第三滚轴固定在光源单元一侧,第四滚轴固定在光源单元另一侧,第三滚轴和第四滚轴平行设置,遮光布首尾相接且侧面呈环形,卷绕在第三滚轴和第四滚轴上,并且光源单元置于环形中间位置,第三电机连接在第三滚轴一侧。由于电机带动两滚轴同步传动,遮光布随滚轴传动循环运动,使透光区随之发生变化,实现同一测试灯箱测量多种型号产品的目的,结构简单,可靠性高。
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