[发明专利]一种基于图像质量的InGaAs FPAs组件性能评估装置及其应用有效

专利信息
申请号: 201810828848.1 申请日: 2018-07-25
公开(公告)号: CN108844637B 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 杨本亚;李永富;费窚;陈大明 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 叶亚林
地址: 250199 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 图像 质量 ingaas fpas 组件 性能 评估 装置 及其 应用
【说明书】:

发明涉及一种基于图像质量的InGaAs FPAs组件性能评估装置及其应用。本发明所述基于图像质量的InGaAs FPAs组件性能评估装置,根据图像质量直观地对目前最常见的320×256、640×512等型号InGaAs FPAs组件进行性能评价;提高了对不同组件测试的效率的同时,以图表的形式给出组件的测试结果,相比传统的测试方法,更加直观、简便。

技术领域

本发明涉及一种基于图像质量的InGaAs FPAs组件性能评估装置及其应用,属于InGaAs FPAs组件性能测评的技术领域。

背景技术

短波红外是介于可见光及中长波红外之间的电磁辐射,可以获得很多可见光和中长波波段成像无法获取到的信息。短波红外主要利用被测目标所反射的短波红外波段环境光成像,与中长波红外相比,短波红外成像的景物轮廓与细节更清晰,可辨识度更高;与可见光相比,短波红外波段光信号受大气凝结水厚度影响较小,大气传输特性好,具有良好的透雾霾成像能力;短波红外在夜天光、大气辉光中大量存在,在天气晴朗的夜间具有良好的夜视成像效果;短波红外能够穿透油彩,识别某些可见光无法识别的伪装,鉴别艺术品真伪;组织对短波红外的吸收和散射相对较弱,因此短波红外可以用于光学相干层析(OCT)等医学应用。基于以上特点,短波红外成像技术及短波红外成像仪成为近几年的研究热点。

InGaAs焦平面(FPAs)组件是短波红外成像仪的核心部件,其性能直接关系到成像仪的成像质量。近年来,在国外,美国SUI公司、比利时Xenics公司、法国Sofradir公司、日本滨松光子学公司等研究机构都对InGaAs FPAs组件开展了大量的研究且技术已比较成熟,InGaAs FPAs组件已经实现产业化;在国内,中国科学院上海技术物理所和山西国惠光电走在了InGaAs FPAs组件研制的前列,可以提供性能优良工作稳定的InGaAs FPAs组件。研究机构投入大量精力,极大的推动了InGaAs FPAs组件的发展。

现阶段盲元补偿技术、非均匀性较正、图像增强是短波红外图像处理的主要处理方式,国内外已经研究出补偿、较正、及增强技术。目前被广泛采用的盲元补偿方法可分为两种:一种是时间补偿法,另一种是空间补偿法。时间补偿法利用相邻帧的相关性,从相邻帧中获取信息进行补偿;空间补偿法则在一帧图像内进行操作,对一帧图像进行处理,完成补偿。线性插值法[1]是常用的盲元补偿算法,使用相邻的上下左右四个像元的均值补偿盲元的值。两点法是常用的非均匀性较正算法[2],通过就算出增益算子及偏移算子校正图像。红外图像增强算法归纳起来可以分为两类:一类是空域增强算法,一类是频域增强算法。其中,空域增强算法主要是基于图像像素本身的灰度值进行的处理,常见的算法有直方图均衡法[3]

[1]周慧鑫,殷世民,刘上乾,赖睿.红外焦平面器件盲元检测及补偿算法[J].光子学报,2004(05):598-600.

[2]赵岩.红外焦平面阵列非均匀校正算法研究[D].国防科学技术大学,2007.

[3]陈永亮.灰度图像的直方图均衡化处理研究[D].安徽大学,2014.

目前,对InGaAs FPAs组件的常规测试评价方法是,在不同温度黑体辐照条件下直接针对InGaAs FPAs组件进行响应电压测试,利用响应电压计算响应率等特性参数;主要的评价性能指标包括响应率和响应率不均匀性、噪声电压、探测率、噪声等效温差、有效像元率、固定图形噪声、噪声等效功率、饱和度功率、动态范围、相对光谱响应、读出速率以及串音等,这些指标可以客观的对InGaAs FPAs组件性能进行评估,但测试周期长,测试结果也不直观。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供一种基于图像质量的InGaAs FPAs组件性能评估装置。

本发明还提供一种利用上述装置进行InGaAs FPAs组件性能评估的方法。

本发明的技术方案为:

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